检测项目

1.表面暗电阻率：测量范围110~110⁶Ω/sq，电压加载50V-500VDC

2.体积暗电阻率：量程覆盖110⁴~110⁸Ωcm，测试电流精度0.5%

3.温度依赖性测试：-40℃~150℃温控条件下连续监测电阻变化

4.时间稳定性分析：持续72小时监测电阻漂移率（≤3%）

5.电压应力测试：阶梯加压至击穿阈值（最高3000V），记录伏安特性曲线

检测范围

1.半导体材料：单晶硅片、GaN衬底、碳化硅晶圆等

2.高分子绝缘材料：聚酰亚胺薄膜、PTFE板材、环氧树脂封装体

3.光电功能材料：钙钛矿薄膜、OLED发光层、光伏背板

4.电子元器件：MLCC电容器、压敏电阻器、热敏传感器

5.特种涂层材料：防静电涂料、航天器热控涂层、核级屏蔽材料

检测方法

ASTMD257-14：绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法

IEC60093:1980：固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法

GB/T1410-2006：固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法

JISK6911:2006：热固性塑料一般试验方法（含暗电阻测试）

ISO1853:2018：导电和抗静电橡胶材料电阻率测定

检测设备

1.Keithley6517B高阻计：分辨率0.01fA，最大量程10⁸Ω

2.Agilent4339B高阻计：支持100mV-1000V偏置电压，四线制测量

3.HIOKIRM3545电阻计：温度补偿功能，基本精度0.3%

4.ESPECPCT-322气候箱：温控精度0.5℃，湿度波动2%RH

5.TektronixPA3000高压探头：耐压20kV，带宽DC-50MHz

6.CascadeSummit12000探针台：支持12英寸晶圆级测试

7.KeysightB1505A功率器件分析仪：脉冲模式I-V特性测试

8.Chroma19032耐压测试仪：漏电流分辨率0.1nA

9.FLUKE1587FC绝缘测试仪：极化指数(PI)与介质吸收比(DAR)测量

10.LabVIEW数据采集系统：支持多通道同步监测与数据建模分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与暗电阻检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。