1. 相变温度测定:测量范围300-1200℃,精度±0.3℃,包含α→β相变点及共晶反应温度
2. 相组成比例分析:采用面积法计算各相体积分数,误差≤1.5%,支持三元系至五元系合金
3. 元素分布均匀性检测:电子探针线扫描步长0.1μm,特征X射线强度波动值≤5%
4. 晶粒尺寸统计:基于EBSD技术测量平均晶径0.5-200μm,取向差角阈值设定2°
5. 界面结合强度测试:纳米压痕法测定界面结合力0.1-50mN,位移分辨率0.02nm
1. 金属基高温合金:镍基单晶合金CMSX-4/Rene N5、钴基合金MAR-M509
2. 先进陶瓷材料:氧化锆增韧陶瓷(ZTA)、碳化硅纤维增强碳化硅(SiC/SiC)
3. 高分子复合材料:聚酰亚胺基纳米复合材料(PI/SiO₂)、PTFE填充体系
4. 功能梯度材料:Ti/TiB₂梯度层状结构、Al-SiC金属基梯度材料
5. 电子封装材料:铜-钨合金(CuW80)、铝碳化硅(AlSiC-70)热沉材料
ASTM E112-13《测定平均晶粒度的标准试验方法》:规定截线法和面积法测量规程
ISO 643:2019《钢的显微组织检验标准》:明确奥氏体晶粒度评级图谱比对法
GB/T 228.1-2021《金属材料拉伸试验第1部分》:规定高温环境箱配合引伸计的使用规范
ASTM E384-22《材料显微硬度的标准试验方法》:定义200g载荷下维氏硬度测量流程
GB/T 13298-2015《金属显微组织检验方法》:规范金相试样制备及腐蚀剂选用标准
1. JEOL JSM-7900F场发射扫描电镜:配备OXFORD Ultim Max 170mm²能谱仪,空间分辨率1nm@15kV
2. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪:DSC灵敏度0.1μW,TG分辨率0.1μg
3. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:Cu靶Kα辐射(λ=0.15406nm),角度重复性±0.0001°
4. Shimadzu HMV-G21T显微硬度计:载荷范围10gf-2kgf,压痕自动测量精度±0.1μm
5. ZEISS Axio Imager M2m金相显微镜:配备12位彩色CCD相机,最大放大倍数1500×
6. MTS Criterion Model 45万能试验机:高温炉最高温度1200℃,载荷精度±0.5%示值
7. Oxford Instruments Symmetry EBSD系统:采集速度≥3000点/秒,角分辨率0.5°
8. Linseis L78/RITA高频感应加热炉:升温速率最高500K/s,控温精度±1K@1600℃
9. Leica EM TIC 3X三离子束切割仪:样品制备表面粗糙度Ra≤5nm
10.Agilent 5500 AFM原子力显微镜:接触模式分辨率0.1nm,最大扫描范围90μm×90μm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与等温截面检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。