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薄膜集成电阻检测

  • 原创官网
  • 2025-04-10 15:18:02
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薄膜集成电阻检测概述:薄膜集成电阻作为高精度电路核心元件,其性能直接影响电子设备可靠性。本文系统阐述薄膜集成电阻的关键检测项目及参数标准,涵盖阻值精度、温度特性、耐压强度等核心指标分析。基于国际IEC60115与国标GB/T5729系列标准,详细介绍材料筛选方法及失效模式判定依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.电阻值精度:测量标称值与实测值偏差范围(0.1%至5%)

2.温度系数(TCR):-50ppm/℃至+200ppm/℃区间测试

3.耐压性能:DC100V-1000V持续60s绝缘强度验证

4.长期稳定性:85℃/85%RH环境下1000小时阻值漂移量≤0.5%

5.绝缘电阻:500VDC下>10GΩ(GB/T5729-2003)

检测范围

1.镍铬合金薄膜电阻(Ni80Cr20)

2.氮化钽基高温电阻(TaN)

3.氧化锡透明导电膜电阻

4.汽车电子ECU控制模块用贴片电阻

5.航天级抗辐射薄膜电阻网络

检测方法

1.ASTMB809-95金属薄膜方阻测试规范

2.ISO16797:2015电子元件湿热循环试验法

3.GB/T2423.22-2012温度变化试验程序

4.IEC60115-8:2021固定电阻器耐久性试验

5.MIL-STD-202GMethod301盐雾腐蚀测试

检测设备

1.Keysight34461A数字万用表(6位分辨率)

2.Chroma19032耐压测试仪(0-5kVAC/DC)

3.ESPECSH-642恒温恒湿箱(-70℃~150℃)

4.TektronixDMM6500高精度源表(1μΩ分辨率)

5.HiokiIR4056绝缘电阻计(1000V/1TΩ量程)

6.NetzschSTA449F3热分析仪(TCR测量)

7.Agilent4294A阻抗分析仪(40Hz-110MHz)

8.ThermoScientificESCALABXi+表面分析系统

9.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪(晶相分析)

10.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与薄膜集成电阻检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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