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曝光范围检测

  • 原创官网
  • 2025-02-20 09:21:24
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曝光范围检测概述:曝光范围检测是评估材料或产品在特定光照条件下性能变化的关键测试项目,主要应用于光学元件、涂层材料、电子显示器等领域。检测涵盖光强分布、波长响应、能量衰减等核心参数,严格遵循ASTM、ISO国际标准。通过高精度光谱仪与辐射计等设备,可准确量化材料的光稳定性及耐候性,为产品研发和质量控制提供科学依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

光强分布检测:测量200-2500nm波段内光照强度,精度±1.5%,测试范围0.1-500mW/cm²

波长响应测试:分析280-780nm可见光至近红外区域的材料响应曲线,分辨率0.1nm

照度均匀性评估:依据ISO 13655标准执行,检测平面照度差异≤3%

紫外辐照衰减测试:UVA(315-400nm)/UVB(280-315nm)波段累计能量检测,时间分辨率0.1秒

光热稳定性验证:温度-40℃~150℃交变条件下持续光照1000小时后的性能保持率测试

检测范围

光学薄膜材料:LCD偏光片、AR增透膜等

半导体元件:光传感器、CCD/CMOS成像芯片

光敏高分子材料:光刻胶、UV固化涂料

医疗器械:内窥镜光学系统、激光治疗设备

印刷材料:防伪油墨、户外广告基材

检测方法

ASTM E275:描述紫外线、可见光和红外分光光度计的使用规程

ISO 13695:光谱辐射度测量中的激光参数测试标准

IEC 61215:光伏组件紫外预处理试验方法

JIS K 5600-7-7:涂层材料耐光性加速试验方法

GB/T 1865:色漆和清漆人工气候老化和曝露试验

检测设备

OL-756A分光辐射度计:波长范围200-1100nm,配备10英寸积分球,可进行4π立体角测量

Bentham PVE300光谱响应系统:双光栅单色仪,波长精度±0.05nm

Atlas Ci4000氙灯老化箱:符合ISO 4892-2标准,光谱匹配度等级A

Konica Minolta CS-2000成像色度计:空间分辨率1280×1024像素,亮度测量范围0.003-20,000cd/m²

Thermo Scientific Evolution 260紫外分光光度计:双光束系统,波长扫描速度达8000nm/min

技术优势

持有CNAS(中国合格评定国家认可委员会)认可证书编号详情请咨询工程师,检测报告获ILAC国际互认

配备ISO/IEC 17025认证的恒温恒湿实验室,温度控制精度±0.5℃,湿度波动≤2%RH

技术团队包含5名高级光学工程师,累计参与制定3项国家标准

拥有自主开发的光谱数据算法,可实现0.01%级别的微弱信号解析

建立覆盖全球5大气候区的基准光照数据库,支持跨地域检测结果校正

  以上是与曝光范围检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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