离子彗尾检测概述:检测项目1.离子密度梯度分析:测量范围110~110⁹ions/cm,分辨率5%2.速度矢量分布测定:覆盖0.1~100km/s区间,角度精度0.53.电荷中和效率测试:评估电子-离子复合率(0.1~100ms响应时间)4.等离子体温度监测:电子温度(0.1~100eV)与离子温度(0.01~10eV)同步测量5.电磁场扰动响应:磁场强度0.1~10T范围内粒子轨迹偏移量记录检测范围1.航天器表面防护涂层(如氧化铝基陶瓷复合材料)2.半导体晶圆表面处理层(氮化硅/二氧化硅薄膜)3.核聚变装置第一壁材料(钨
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.离子密度梯度分析:测量范围110~110⁹ions/cm,分辨率5%
2.速度矢量分布测定:覆盖0.1~100km/s区间,角度精度0.5
3.电荷中和效率测试:评估电子-离子复合率(0.1~100ms响应时间)
4.等离子体温度监测:电子温度(0.1~100eV)与离子温度(0.01~10eV)同步测量
5.电磁场扰动响应:磁场强度0.1~10T范围内粒子轨迹偏移量记录
1.航天器表面防护涂层(如氧化铝基陶瓷复合材料)
2.半导体晶圆表面处理层(氮化硅/二氧化硅薄膜)
3.核聚变装置第一壁材料(钨铜合金/石墨烯复合材料)
4.深空探测器天线阵列(钛合金/聚酰亚胺复合结构)
5.离子推进器喷口材料(六硼化镧/钼基合金)
ASTME1508-12等离子体诊断用朗缪尔探针标准试验方法
ISO15927-6:2007空间环境模拟试验规程
GB/T28821-2012半导体材料表面电荷特性测试规范
GB11297.11-2020航天器表面带电效应测试方法
IEC62396-5:2016航空电子系统离子流干扰评估导则
1.ThermoScientificX7ICP-MS:用于痕量元素释放量测定(质量范围2-260amu)
2.KeysightN9030BPXA信号分析仪:电磁辐射谱测量(频率范围3Hz至50GHz)
3.HidenESPion等离子体诊断系统:三维离子能量分布测量(能量分辨率0.1eV)
4.BrukerEMASpectAFM:纳米级表面电势成像(空间分辨率5nm)
5.Agilent85070E介电探头套件:材料介电常数测量(频率1MHz至50GHz)
6.LakeShore475DSP高斯计:磁场强度精确测量(量程0.01G至30kG)
7.KLATencorP-17表面轮廓仪:微观结构形貌分析(垂直分辨率0.1nm)
8.VACCOVE-903真空电导率测试仪:超高真空环境导电特性测试(压力范围10⁻⁴~10⁻⁹Pa)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与离子彗尾检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。