检测项目

1.能级差测定：测量基态与激发态能量差值（单位：eV），精度0.01eV

2.吸收光谱分析：记录200-2500nm波长范围内的吸光度曲线

3.荧光量子产率测定：计算发射光子数与吸收光子数比值（Φ值）

4.激发态寿命测量：时间分辨光谱法测定纳秒至微秒级衰减过程

5.振子强度计算：通过积分摩尔吸光系数获得跃迁概率参数

检测范围

1.III-V族半导体材料（GaAs、InP等）带间跃迁特性

2.有机发光材料（OLED发光层）的π-π*电子跃迁行为

3.稀土掺杂发光材料（YAG:Ce⁺）的4f-5d跃迁过程

4.量子点材料（CdSe/ZnS）尺寸依赖的激子跃迁特性

5.过渡金属配合物（Ru(bpy)₃⁺）的电荷转移跃迁分析

检测方法

1.ASTME275紫外可见光谱法测定吸收系数

2.ISO14887动态光散射法测量纳米粒子尺寸效应

3.GB/T32672-2016荧光量子产率绝对测定法

4.ISO13320激光衍射法分析材料粒径分布

5.GB/T21186-2007傅里叶变换红外光谱法测定分子振动模式

检测设备

1.Cary5000紫外可见近红外分光光度计：波长范围175-3300nm，分辨率0.05nm

2.EdinburghFLS1000稳态/瞬态荧光光谱仪：时间分辨率达50ps

3.ThermoNicoletiS50傅里叶红外光谱仪：配备液氮冷却MCT探测器

4.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼系统：空间分辨率0.5μm

5.Agilent8900ICP-MS：用于元素掺杂浓度定量分析

6.MalvernZetasizerNanoZSP：动态光散射粒径分析仪

7.BrukerD8AdvanceX射线衍射仪：晶体结构解析精度0.0001

8.Keithley4200-SCS半导体参数分析仪：IV/CV特性测试系统

9.OxfordInstrumentsOptistatDN₂低温恒温器：温度范围77-500K

10.HamamatsuC11200超快条纹相机：时间分辨率200fs

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与电子跃迁检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。