复三方双锥类检测概述:检测项目1.晶胞参数测定:a轴长度(0.001)、c轴长度(0.002),角度偏差≤0.052.热膨胀系数测试:温度范围-196C至1200C,轴向膨胀率测量精度0.0510⁻⁶/K3.维氏硬度测试:载荷范围10gf-50kgf,压痕对角线测量误差≤0.5μm4.残余应力分析:X射线衍射法测量深度0.1-30μm,应力分辨率10MPa5.化学稳定性评估:酸碱环境(pH1-14)浸泡72小时失重率测定检测范围1.单晶硅基复三方双锥结构半导体材料2.氧化锆基高温陶瓷双锥部件3.钛合金人工关节双锥连接件4.钨铜
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.晶胞参数测定:a轴长度(0.001)、c轴长度(0.002),角度偏差≤0.05
2.热膨胀系数测试:温度范围-196C至1200C,轴向膨胀率测量精度0.0510⁻⁶/K
3.维氏硬度测试:载荷范围10gf-50kgf,压痕对角线测量误差≤0.5μm
4.残余应力分析:X射线衍射法测量深度0.1-30μm,应力分辨率10MPa
5.化学稳定性评估:酸碱环境(pH1-14)浸泡72小时失重率测定
1.单晶硅基复三方双锥结构半导体材料
2.氧化锆基高温陶瓷双锥部件
3.钛合金人工关节双锥连接件
4.钨铜复合电极双锥端头
5.碳化硅复合材料光学棱镜组件
1.X射线衍射分析:ASTME915-16测定晶格畸变率
2.热机械分析:ISO11358-3:2021测量各向异性热膨胀
3.纳米压痕测试:GB/T21838-2020评估弹性模量
4.扫描电镜表征:GB/T27788-2020进行表面形貌分析
5.ICP-OES化学分析:ASTME1479-16测定元素偏析度
1.PANalyticalEmpyreanX射线衍射仪:配备高温附件(RT-1600C)
2.NETZSCHDIL402Expedis热膨胀仪:轴向分辨率0.125nm
3.ZwickRoellZHU2.5硬度计:自动压痕测量系统
4.BrukerD8DISCOVER残余应力分析仪:Psi角扫描范围0-165
5.HitachiSU5000场发射电镜:二次电子分辨率1.0nm@15kV
6.PerkinElmerAvio550MaxICP-OES:波长范围165-852nm
7.MTSCriterion万能试验机:载荷容量50kN精度0.5%
8.AgilentCary7000紫外可见分光光度计:波长精度0.08nm
9.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
10.LinseisLFA1000激光导热仪:温度范围-125C至500C
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与复三方双锥类检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。