簇离子检测概述:检测项目1.簇离子浓度测定:测量范围110~110⁹ions/cm,精度5%2.粒径分布分析:粒径范围0.5~100nm,分辨率0.3nm3.电荷态分布检测:电荷数1~10+,能量分辨率≤0.1eV4.元素组成鉴定:检出限0.01ppm(ICP-MS联用)5.热稳定性测试:温度范围-196℃~1200℃,控温精度0.5℃6.表面吸附特性:比表面积测量精度0.05m/g检测范围1.半导体材料:硅基芯片、GaN外延层、碳化硅晶圆2.纳米涂层材料:金属氧化物涂层(TiO₂/Al₂O₃)、DLC类金刚石薄膜3.生
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.簇离子浓度测定:测量范围110~110⁹ions/cm,精度5%
2.粒径分布分析:粒径范围0.5~100nm,分辨率0.3nm
3.电荷态分布检测:电荷数1~10+,能量分辨率≤0.1eV
4.元素组成鉴定:检出限0.01ppm(ICP-MS联用)
5.热稳定性测试:温度范围-196℃~1200℃,控温精度0.5℃
6.表面吸附特性:比表面积测量精度0.05m/g
1.半导体材料:硅基芯片、GaN外延层、碳化硅晶圆
2.纳米涂层材料:金属氧化物涂层(TiO₂/Al₂O₃)、DLC类金刚石薄膜
3.生物医用材料:羟基磷灰石植入体、药物载体纳米颗粒
4.能源材料:锂离子电池电极材料、燃料电池催化剂
5.环境污染物:PM2.5气溶胶颗粒、工业纳米粉尘
1.ASTME2941-14:基于飞行时间质谱的簇离子粒径测定标准方法
2.ISO15900:2020:差分电迁移分析法(DMA)国际标准
3.GB/T38095-2019:纳米颗粒物Zeta电位测定国家标准
4.ISO19749:2021:扫描电子显微镜结合能谱(SEM-EDS)联用技术规范
5.GB/T41315-2022:电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)元素分析标准
1.TSI3082型电迁移粒径谱仪:测量范围3~1000nm,流量控制精度1%
2.ThermoFisherOrbitrapFusionLumos三合一质谱仪:分辨率≥240,000@m/z200
3.MalvernZetasizerNanoZSP:Zeta电位测量范围500mV,温度控制0.1℃
4.Agilent8900ICP-QQQ-MS:检出限低至ppt级,质量数范围3~270amu
5.HitachiRegulus8230场发射SEM:分辨率0.8nm@15kV,配备BSE/EDS探测器
6.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪:孔径测量范围0.35~500nm
7.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:XYZ扫描范围909010μm
8.NetzschSTA449F5同步热分析仪:TG/DSC同步测量精度0.1μg
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与簇离子检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。