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光发射装置检测

  • 原创官网
  • 2025-05-15 22:23:01
  • 关键字:光发射装置测试周期,光发射装置测试机构,光发射装置测试标准
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光发射装置检测概述:检测项目1.发射波长范围:测量中心波长偏差(0.5nm)及半高宽(FWHM≤3nm)。2.输出功率稳定性:连续工作8小时功率波动≤2%,瞬时峰值波动≤5%。3.光谱特性分析:包括边模抑制比(SMSR≥30dB)和光谱平坦度(1dB)。4.调制带宽测试:评估10Gbps至400Gbps信号下的眼图质量及上升/下降时间(≤100ps)。5.光束质量因子(M):测量激光束腰直径与发散角偏差(M≤1.3)。检测范围1.半导体激光二极管(LD):用于光纤通信与传感系统。2.LED可见光/红外发射模块:涵盖380-1


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检测项目

1.发射波长范围:测量中心波长偏差(0.5nm)及半高宽(FWHM≤3nm)。

2.输出功率稳定性:连续工作8小时功率波动≤2%,瞬时峰值波动≤5%。

3.光谱特性分析:包括边模抑制比(SMSR≥30dB)和光谱平坦度(1dB)。

4.调制带宽测试:评估10Gbps至400Gbps信号下的眼图质量及上升/下降时间(≤100ps)。

5.光束质量因子(M):测量激光束腰直径与发散角偏差(M≤1.3)。

检测范围

1.半导体激光二极管(LD):用于光纤通信与传感系统。

2.LED可见光/红外发射模块:涵盖380-1600nm波段。

3.光纤布拉格光栅(FBG)光源:温度稳定性-40℃~85℃。

4.医用激光治疗设备:包括532nm/1064nm/1550nm波长等级。

5.工业高功率激光器:最高检测功率达20kW连续输出。

检测方法

1.ASTME2758-2015:光谱辐射亮度校准规范。

2.ISO11145:2018:激光器术语与符号定义。

3.GB/T31359-2015:半导体激光器测试方法。

4.IEC60825-1:2014:激光产品安全等级分类。

5.GB7247.1-2012:激光设备辐射安全阈值判定。

检测设备

1.光谱分析仪(YokogawaAQ6370D):波长分辨率0.02nm,动态范围78dB。

2.光功率计(Newport2936-R):量程10nW-10W,不确定度0.8%。

3.光束质量分析仪(OphirNanoScan2s):支持M因子实时测量。

4.高速示波器(KeysightDSAZ634A):80GHz带宽,240GSa/s采样率。

5.积分球测试系统(LabsphereLMS-9000):全光通量测量精度1.5%。

6.温控老化试验箱(ESPECPL-3KPH):温度控制精度0.5℃。

7.偏振分析仪(GeneralPhotonicsPCD-104):消光比测量范围0-40dB。

8.光学衰减器(EXFOFVA-3150):衰减范围0-70dB,分辨率0.001dB。

9.脉冲发生器(TektronixAWG70002A):50ps上升时间,24GHz带宽。

10.EMI测试系统(Rohde&SchwarzTS9980):辐射骚扰测试频率范围30MHz-18GHz。

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光发射装置检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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