检测项目

1.中子过剩数（N-Z）测定：精度0.05%，测量范围Z=1-100

2.同位素丰度比（n/p）分析：分辨率≤0.001amu

3.核素半衰期关联性验证：时间测量误差＜0.1ns

4.裂变产物中子俘获截面测量：能量范围0.025eV-10MeV

5.稳定岛理论验证实验：超重核n/p比测量（Z≥104）

检测范围

1.核燃料元件：铀-235/238混合氧化物燃料棒

2.放射性同位素药物：钼-99/锝-99m发生器系统

3.半导体掺杂材料：高纯锗单晶（Ge-76/74比率）

4.地质年代测定样品：钐-147/钕-143体系

5.核废料处理材料：镅-241/钚-240混合氧化物

检测方法

1.ASTMC1380-18：放射性材料同位素质谱分析法

2.ISO21483:2017：核级锆合金中n/p比测定规程

3.GB/T35859-2018：半导体材料同位素丰度测量规范

4.ISO18589-4:2019：环境样品α能谱分析法

5.GB11850-2019：核燃料元件化学分析通用要求

检测设备

1.ThermoScientificELEMENT2：高分辨电感耦合等离子体质谱仪（HR-ICP-MS），质量分辨率＞10,000

2.CANBERRAGEM60P4-83：高纯锗γ能谱仪（HPGe），能量分辨率＜1.8keV@1.33MeV

3.NEC1.5SDH-2：串列加速器质谱仪（AMS），测量精度10^-15量级

4.Agilent8900：三重四极杆ICP-MS/MS，质量数范围3-310amu

5.ORTECAlphaAnalyst：硅面垒α粒子能谱仪（FWHM＜18keV）

6.JEOLJMS-T200GC：气相色谱质谱联用仪（GC-MS），电子轰击源70eV

7.BrukerS8TIGER：波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF），元素范围Be-U

8.PerkinElmerNexION2000：多接收电感耦合等离子体质谱仪（MC-ICP-MS），质量偏转角度90

9.ShimadzuAIM-9000：红外显微成像系统（空间分辨率1μm）

10.MalvernPanalyticalEmpyrean：X射线衍射仪（XRD），角度精度0.0001