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调制分子束质计检测

  • 原创官网
  • 2025-05-17 20:05:27
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调制分子束质计检测概述:检测项目1.表面成分分析:测量元素组成及化学态(能量分辨率≤0.5eV)2.元素深度分布:溅射速率0.1-10nm/min(Ar+离子束3-5keV)3.反应动力学参数:时间分辨精度达10μs级4.吸附/脱附能测定:温度范围80-1500K(控温误差0.5K)5.界面扩散系数:空间分辨率优于50μm检测范围1.半导体材料:GaN、SiC外延层缺陷分析2.金属合金:Ni基高温涂层氧化动力学研究3.高分子材料:聚合物表面官能团定量表征4.纳米材料:量子点表面配体覆盖率测定5.


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检测项目

1.表面成分分析:测量元素组成及化学态(能量分辨率≤0.5eV)
2.元素深度分布:溅射速率0.1-10nm/min(Ar+离子束3-5keV)
3.反应动力学参数:时间分辨精度达10μs级
4.吸附/脱附能测定:温度范围80-1500K(控温误差0.5K)
5.界面扩散系数:空间分辨率优于50μm

检测范围

1.半导体材料:GaN、SiC外延层缺陷分析
2.金属合金:Ni基高温涂层氧化动力学研究
3.高分子材料:聚合物表面官能团定量表征
4.纳米材料:量子点表面配体覆盖率测定
5.生物医学材料:植入器械表面蛋白质吸附量检测

检测方法

ASTME1504-2018《表面分析中溅射深度剖析标准指南》
ISO18118:2022《表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱》
GB/T19502-2021《表面化学分析-辉光放电发射光谱方法通则》
GB/T28893-2018《表面化学分析-二次离子质谱分析方法通则》
ISO20903:2019《表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱重复性和一致性验证》

检测设备

1.ThermoScientificModelX200:配备双等离子体源(Ar+/O2+),质量范围1-300amu
2.HidenAnalyticalHAL301:三重四极杆质谱仪(检出限10ppb)
3.Agilent8900ICP-MS/MS:MS/MS模式消除同质异位素干扰
4.ULVAC-PHIVersaProbeIV:XPS/MMBMS联用系统(空间分辨率7μm)
5.SPECSFlexMod:可编程脉冲电子枪(脉宽10ns-10ms可调)
6.PfeifferVacuumHiPace700:涡轮分子泵(抽速685L/s)
7.StanfordResearchSystemsRGA300:残余气体分析仪(1-100amu)
8.KurtJ.LeskerNano38:磁控溅射系统(基片加热温度1200℃)
9.Brukere-FlashHR:高分辨飞行时间探测器(质量分辨率>20,000)
10.EdwardsSTP-A4503:低温泵(极限真空510^-10mbar)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与调制分子束质计检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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