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片状镍测试

  • 原创官网
  • 2025-02-26 17:26:10
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片状镍测试概述:片状镍测试涉及对材料物理性能、化学成分及表面特性的系统性检测,确保其符合工业应用标准。关键检测指标包括厚度均匀性、纯度、晶体结构及机械性能等,需采用国际通用方法结合精密仪器分析。本文详述检测项目、适用范围、方法标准及设备选型,为质量控制提供技术依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

厚度检测:测量范围0.1-500μm,精度±0.05μm

成分分析:镍含量≥99.5%,杂质元素(Fe、Co、Cu)≤0.03%

表面形貌:晶粒尺寸1-20μm,孔隙率≤0.5%

力学性能:拉伸强度≥450MPa,延伸率≥15%

电化学特性:比表面积2-15m²/g,电导率≥1.5×10⁷S/m

检测范围

电子元件:柔性电路板导电层、电磁屏蔽材料

电池材料:锂离子电池集流体、氢燃料电池双极板

化工催化剂:加氢催化剂载体、电解反应电极

金属涂层:防腐镀层、耐磨表面处理层

复合材料:镍/石墨烯复合膜、多层金属叠层材料

检测方法

ASTM B748-90(2021):X射线荧光测厚法

ISO 11884:2022:电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)

GB/T 4340.1-2009:维氏硬度测试法

ASTM E112-13:金相显微镜晶粒度测定

ISO 18516:2023:BET比表面积分析

GB/T 17723-2020:四探针法电阻率检测

检测设备

Hitachi SU5000场发射扫描电镜:分辨率0.8nm,配备EDS能谱仪

Thermo Fisher ARL PERFORM'X X射线荧光光谱仪:检测限0.001%

Instron 5985万能材料试验机:最大载荷100kN,应变速率0.001-1000mm/min

Micromeritics ASAP 2460比表面积分析仪:孔径测量范围0.35-500nm

Agilent 5110 ICP-OES:波长范围167-785nm,检出限0.1ppb

Mitutoyo HM-200显微硬度计:载荷范围10-2000gf,放大倍数400X

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与片状镍测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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