检测项目

1.簇大小验证：测量4KB/8KB/16KB/32KB/64KB五种标准分配单元的实际占用率

2.对齐精度检测：量化0.5%/1%/2%三种偏移阈值下的读写性能衰减

3.碎片化率分析：统计连续区块占比（≥90%）、中度碎片（60-89%）、重度碎片（≤59%）三级标准

4.元数据校验：验证FAT32/NTFS/exFAT文件系统的MFT/FAT表完整性

5.跨区写入测试：模拟512B-128KB非对齐数据的传输稳定性

检测范围

1.NAND闪存类：3DTLC/QLCSSD（容量256GB-8TB）

2.磁记录介质：7200rpmHDD（SMR/CMR技术）

3.UFS存储设备：移动终端嵌入式UFS3.1/4.0芯片

4.可移动存储：USB3.2Gen2U盘（Type-C/A接口）

5.工业级SD卡：Class10/UHS-II/V90规格的microSDXC卡

检测方法

ASTMF2925-19固态存储设备物理特性测试规范

ISO/IEC10373-6:2020识别卡测试方法第6部分：近场通信

GB/T26225-2010信息技术移动存储闪存盘通用规范

GB/T30003-2013信息技术固态盘通用规范

ISO/IEC29125:2017信息技术可移动数字存储介质性能分级

检测设备

CrystalDiskMark8.0.4x64：基准读写速度与IOPS测量工具

HDTunePro5.75：扇区访问时间与错误扫描系统

ATTODiskBenchmark4.01：跨尺寸文件传输性能分析仪

F3PROV6.0：物理容量真实性验证装置

Anvil'sStorageUtilities1.1.0：综合耐久性测试平台

H2testw1.4：数据完整性校验专用程序

Victoria5.37：磁表面缺陷扫描与修复系统

ASSSDBenchmark2.0.7316：SSD对齐状态诊断套件

ChipGenius4.21：主控芯片与固件信息识别工具

IOMeter1.1.0rc1：企业级负载模拟测试系统