检测项目

1.光谱分辨率测试：测量仪器在400-1000nm范围内的最小可分辨波长间隔（≤0.1nm）

2.波长精度校准：验证仪器在可见光波段（380-780nm）的波长定位误差（0.2nm）

3.信噪比测试：评估系统在积分时间100ms时的信噪比（≥60dB）

4.动态线性范围：测定光电探测器在200-800nm波段的响应线性度（R≥0.999）

5.系统稳定性测试：连续工作8小时的光强波动值（≤0.5%）

检测范围

1.金属材料表面氧化层厚度（10nm-5μm）

2.半导体晶圆掺杂浓度（1E15-1E20atoms/cm）

3.光学薄膜反射/透射特性（250-2500nm波段）

4.LED芯片发光效率与色坐标偏差

5.光伏组件量子效率与光谱响应曲线

检测方法

ASTME275-08(2017)紫外、可见光分光光度计性能验证规程

ISO15470:2017表面化学分析-X射线光电子能谱仪强度标校准

GB/T32212-2015光谱仪性能测试方法

GB/T26179-2010光源显色性评价方法

ISO21254-1:2011激光诱导损伤阈值测量规范

检测设备

1.OceanOpticsHR4000高分辨率光谱仪：波长范围200-1100nm，光学分辨率0.035nm

2.AvantesAvaSpec-ULS2048XL：2048像素背照式CCD，积分时间1ms-10min

3.ShimadzuUV-3600Plus紫外可见近红外分光光度计：带宽0.1-20nm可调

4.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼光谱仪：空间分辨率<1μm

5.PerkinElmerLambda950双单色器系统：杂散光<0.00007%T@220nm

6.BrukerVERTEX80v真空型FTIR光谱仪：光谱范围30-28,000cm⁻

7.AgilentCary7000全能型分光光度计：最大扫描速度24000nm/min

8.AndorSR-500i成像光谱仪：16位科学级CMOS探测器

9.JascoFP-8500荧光分光光度计：波长准确度0.3nm

10.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光谱仪：DTGS检测器信噪比50,000:1

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与图象摄谱仪检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。