检测项目
1.插入损耗：测量波长850nm/1300nm下的典型值≤0.3dB
2.回波损耗：全波段测试范围≥50dB
3.纤芯直径偏差：公差1μm（标准62.5/125μm）
4.数值孔径波动：NA=0.2750.015
5.温度循环性能：-40℃~+85℃循环100次后损耗变化≤0.1dB
6.抗拉强度：轴向拉力≥5N持续60s无断裂
检测范围
1.石英基多模光纤（G.651/G.651.1）
2.聚合物平面光波导（PLC分路器）
3.硅基光子集成光路芯片
4.特种光纤（抗辐射/耐高温型）
5.光纤连接器组件（MT/MTP接口）
检测方法
1.ASTMD4566-18：光纤几何参数测试规范
2.IEC61300-3-34：回波损耗四端口法测量
3.ISO/IEC61280-4-4：OTDR法链路特征分析
4.GB/T15972.30-2021：光纤机械性能试验方法
5.TIA-455-220-A：数值孔径远场扫描法
检测设备
1.Agilent8163B光波万用表：0.001dB分辨率光功率测量模块
2.EXFOFTB-500光时域反射仪：动态范围45dB@1625nm
3.YokogawaAQ2200多通道插损测试系统：支持128通道并行测试
4.MitutoyoMF-U系列光纤几何分析仪：0.05μm直径测量精度
5.ILXLightwaveFPM-8220偏振控制器：波长覆盖600-1650nm
6.AnritsuMT9810A光谱分析仪：0.02nm波长精度
7.ThorlabsOZOptics折射率分布测试台：空间分辨率1μm
8.Instron5944万能材料试验机：0.001N力值分辨率
9.ESPECPCT-322气候试验箱：温变速率15℃/min
10.VeecoNT9100白光干涉仪：表面粗糙度Ra≤0.1nm测量能力