次级粒子检测

检测项目

1.次级粒子粒径分布：测量范围0.1nm-10μm，分辨率0.3nm

2.表面电荷密度：测定Zeta电位值域500mV，精度2mV

3.元素组成分析：检出限达0.01wt%，支持Li-U全元素扫描

4.质量浓度测定：动态范围0.1μg/m-10g/m

5.晶体结构表征：XRD分析晶面间距误差≤0.0001nm

检测范围

1.半导体晶圆表面污染物：硅基/砷化镓/氮化镓材料

2.纳米复合材料：碳纳米管/石墨烯/量子点分散体系

3.催化剂颗粒：贵金属负载型催化剂（Pt/Pd/Rh）

4.生物医药微粒：脂质体/微球/药物结晶

5.环境粉尘样本：PM2.5/工业排放物/气溶胶

检测方法

ASTME2865-12(2020)：动态光散射法测定纳米颗粒粒径

ISO19749:2021：扫描电镜法表征颗粒形貌与分布

GB/T19077-2016：激光衍射法粒度分析通则

ISO13067:2020：微区X射线衍射晶体结构分析

GB/T36082-2018：电感耦合等离子体质谱元素检测法

检测设备

1.马尔文帕纳科ZetasizerNanoZSP：动态光散射与电泳光散射联用系统

2.赛默飞iCAPTQICP-MS：三重四极杆质谱元素分析仪

3.布鲁克D8ADVANCEXRD：高分辨X射线衍射仪（CuKα,λ=0.15406nm）

4.FEIHeliosG4UX：场发射双束电镜（分辨率0.7nm@15kV）

5.岛津EDX-8000：能量色散X射线荧光光谱仪（Be窗探测器）

6.安捷伦8900ICP-MS/MS：串联质谱消除质谱干扰

7.HORIBALB-550：纳米颗粒zeta电位在线监测系统

8.TSI3938SMPS：扫描电迁移粒径谱仪（2-1000nm）

9.珀金埃尔默STA8000：同步热分析仪（TGA/DSC联用）

10.日立SU9000：冷场发射扫描电镜（分辨率0.4nm@15kV）