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粒子接触面积检测

  • 原创官网
  • 2025-03-05 15:03:42
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粒子接触面积检测概述:粒子接触面积检测是材料表征领域的关键技术,涉及粒径分布、比表面积及孔隙率等核心参数的精准测量。本文系统阐述检测项目、适用范围、标准化方法及设备选型,重点关注纳米材料、催化颗粒等领域的质量控制要求,为工程研发与生产提供数据支撑。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

粒径分布范围:检测1 nm-100 μm区间颗粒的D10/D50/D90值

比表面积测定:采用BET法测量0.01-2000 m²/g范围

孔隙结构分析:孔径分布(0.35-500 nm)及孔容(0.0001-2.0 cm³/g)

形貌特征量化:圆形度(0-1)、长径比(1:1-50:1)

团聚度评估:通过SEM/TEM图像分析二次粒子占比(≤30%)

检测范围

金属粉末:钛合金、316L不锈钢等增材制造用粉末

陶瓷颗粒:氧化铝、碳化硅等高温结构材料

催化剂载体:分子筛、活性氧化铝等多孔材料

纳米材料:碳纳米管、石墨烯等二维材料

制药原料:API颗粒、辅料微晶纤维素等

检测方法

气体吸附法:ISO 9277-2010(BET比表面)、GB/T 21650.2-2008(孔径分布)

激光衍射法:ISO 13320-2020(湿法/干法分散)、GB/T 19077-2016

动态光散射:ISO 22412-2017(纳米颗粒分散体系)

压汞法:ASTM D4404-18(大孔材料)、GB/T 21650.1-2008

图像分析法:ASTM E2859-11(SEM/TEM图像处理)

检测设备

BET比表面分析仪:Micromeritics TriStar II Plus(0.01-无上限m²/g)

激光粒度仪:Malvern Mastersizer 3000(0.01-3500 μm)

压汞仪:Quantachrome PoreMaster GT 60(3.6 nm-950 μm)

纳米粒度仪:Brookhaven ZetaPALS(0.6 nm-6 μm)

扫描电镜:Hitachi SU5000(1 nm分辨率,BSE探测器)

真密度仪:AccuPyc II 1340(氦气置换法,0.01%精度)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与粒子接触面积检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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