可送检的样品类型与对应检测项目

样品类型 典型应用场景 主要检测项目 常用方法 / 参考
无机粉体原料 氧化铝、氧化锆、二氧化硅、碳化硅等陶瓷与耐火粉体的粒度控制 D10/D50/D90特征粒径、粒度分布曲线、跨度Span、团聚指数、比表面积对照 GB/T 19077.1-2008《粒度分析 激光衍射法 第1部分：通则》、ISO 13320:2020；湿法/干法分散激光粒度仪
电池材料粉体 磷酸铁锂、三元正极、石墨与硅碳负极的批次粒度一致性核查 D50中位径、D90上限控制、小于1微米细粉占比、分布跨度、批次一致性比对 GB/T 19077.1-2008；配套湿法循环分散与超声解团聚
金属粉末 雾化铁粉、不锈钢粉、钛合金粉等粉末冶金与增材制造原料入厂检验 粒度分布、D10/D50/D90、15-53微米区间累积含量、粒度与流动性关联评价 ASTM B822-20 金属粉末激光散射法、GB/T 19077.1-2008
制药粉体 原料药微粉化、吸入粉雾剂、乳糖载体的粒度与分布评价 几何粒径D50、分布宽度、微粉化前后对比、空气动力学粒度关联评价 中国药典2020年版四部通则0982第三法（激光散射法）
矿物填料与建材粉体 重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、水泥、粉煤灰的细度分级 粒度分布、D50、大于45微米粗颗粒含量、细度与比表面积关联 GB/T 19077.1-2008，与筛析法、勃氏比表面积法交叉验证
悬浮液与乳液 涂料钛白浆、CMP抛光液、农药悬浮剂、纳米分散体的粒度监控 体积平均粒径、D50、纳米级粒度补充测量、分散稳定性评价 ISO 13320:2020；GB/T 19627-2005《粒度分析 光子相关光谱法》
磨料与金刚石微粉 碳化硅、刚玉、金刚石微粉的切割与研磨等级判定 D50集中度、最大粒度复核、粗颗粒含量、粒度牌号符合性 GB/T 19077.1-2008，结合显微镜法复核最大颗粒

检测项目

1. 中位径D50：测量范围0.02-2000微米，标准样品重复性偏差不大于1%

2. 特征粒径D10与D90：评估细粉与粗颗粒偏析，跨度Span=(D90-D10)/D50典型范围0.5-3.0

3. 体积频率分布曲线：全量程分级不少于70通道，输出各粒径区间体积分数

4. 细颗粒组分含量：如小于5微米组分占比0.1%-50%，表征团聚程度与分级效果

5. 纳米级粒度：动态光散射补充测量0.3纳米-10微米，适用胶体、乳液与纳米分散体

6. 比表面积对照：由粒度分布换算结果与BET实测值互相验证，典型范围0.1-50平方米每克

检测范围

1. 无机粉体：α-氧化铝微粉（W0.5、W1等级）、气相二氧化硅（A200型）、碳化硅微粉

2. 电池材料：磷酸铁锂（D50典型0.8-1.5微米）、三元正极NCM811、人造石墨负极（D50 5-20微米）

3. 金属粉末：水雾化铁粉、316L不锈钢粉、增材制造用钛合金粉（15-53微米档）

4. 制药粉体：微粉化原料药、吸入粉雾剂颗粒（1-5微米）、吸入用乳糖载体

5. 矿物填料：重质碳酸钙（400-2500目）、滑石粉、高岭土、粉煤灰、水泥颗粒

6. 悬浮分散体：钛白粉浆料、CMP抛光液、农药悬浮剂、聚合物乳液

检测方法

1. GB/T 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法 第1部分：通则

2. ISO 13320:2020 粒度分析 激光衍射法

3. ASTM B822-20 金属粉末及相关材料粒度分布 激光散射标准试验方法

4. ISO 9276-1:1998 粒度分析结果的表述 第1部分：图解表示法

5. GB/T 19627-2005 粒度分析 光子相关光谱法（纳米级动态光散射补充）

检测设备

1. 激光粒度仪（Mastersizer 3000型）：量程0.01-3500微米，红蓝双光源，70通道以上分级

2. 激光粒度仪（S3500型）：三激光光源，量程0.02-2800微米，干湿两用

3. 动态光散射纳米粒度仪（Zetasizer型）：0.3纳米-10微米，173度背散射检测

4. 湿法循环分散单元：循环流速500-2500毫升每分钟，超声功率0-100瓦可调

5. 干法文丘里进样器：分散气压0-4巴可调，适用于易水化团聚粉体

6. 离心沉降粒度仪：量程0.04-45微米，用于与激光法结果比对

7. 超声波分散器：功率上限500瓦，处理高团聚性浆料

8. 扫描电子显微镜：分辨率3纳米，用于颗粒形貌与团聚状态复核

9. BET比表面积分析仪：氮吸附法，比表面积检测下限0.01平方米每克

10. 万分之一精密天平：分度值0.1毫克，称量取样