检测项目
1.荧光寿命值（τ）：测量范围0.1ps-10ms，精度5%
2.量子产率（Φ）：相对误差≤3%，采用参比法校准
3.衰减曲线拟合参数：多指数拟合（R≥0.99）
4.激发波长依赖性：覆盖200-1100nm光谱范围
5.温度依赖性测试：温控范围-196℃至300℃，步进精度0.5℃
检测范围
1.有机发光材料：OLED发光层、荧光染料、共轭聚合物
2.生物样品：蛋白质标记物、DNA探针、细胞成像试剂
3.纳米材料：量子点、上转换纳米颗粒、金属有机框架（MOF）
4.聚合物材料：光致发光塑料、荧光纤维
5.半导体材料：钙钛矿薄膜、III-V族化合物
检测方法
1.时间相关单光子计数（TCSPC）：符合ISO13321标准
2.相调制法：参照ASTME2180-18
3.频域荧光寿命成像（FLIM）：依据GB/T33252-2016
4.脉冲取样法：遵循GB/T18988.1-2013
5.瞬态吸收光谱法：兼容ISO18562-3:2017
检测设备
1.HoribaDeltaPro：TCSPC系统，时间分辨率≤25ps
2.EdinburghInstrumentsFLS1000：稳态/瞬态荧光光谱仪
3.PicoQuantFluoTime300：多通道寿命分析模块
4.HamamatsuC11367-11：近红外PMT探测器（300-1700nm）
5.Becker&HicklSPC-150N：单光子计数卡，死时间＜200ns
6.AgilentCaryEclipse：磷光/荧光分光光度计
7.OceanInsightFX系列：光纤耦合荧光寿命模块
8.ThorlabsPMT1001/M：微通道板光电倍增管
9.BrukerVertex80v：傅里叶变换荧光光谱系统
10.LeicaTCSSP8FALCON：共聚焦FLIM成像系统