检测项目
1.衰减常数测量：频率范围1MHz-40GHz，精度0.05dB/m
2.相位常数测定：相位分辨率≤0.1，动态范围≥120dB
3.特性阻抗分析：阻抗范围25Ω-150Ω，误差0.5%
4.群时延测试：时延精度5ps/m（@10GHz）
5.介电损耗角正切：测量范围0.0001-10（tanδ），温度控制0.5℃
检测范围
1.光纤通信材料：单模/多模光纤预制棒及成品纤芯
2.高频同轴电缆：RG系列、半刚/半柔电缆组件
3.微波介质基板：PTFE复合材料、陶瓷填充基材
4.波导器件：矩形/圆形波导、定向耦合器
5.电磁屏蔽材料：导电泡棉、金属化织物及吸波涂层
检测方法
ASTMD5568-22：同轴电缆传播参数测试标准方法
IEC61196-1:2023：射频电缆衰减系数测定规范
GB/T17737.1-2018：同轴通信电缆电性能试验方法
ISO11540:2020：波导器件群时延测量技术规范
GB/T12636-2021：微波介质基板复介电常数测试导则
检测设备
KeysightN5227B矢量网络分析仪：频率范围10MHz-67GHz，支持TRL校准
Rohde&SchwarzZVA67四端口网络分析仪：动态范围140dB@10Hz中频带宽
TektronixDSA8300采样示波器：80GHz光模块时域反射测量
AnritsuMT2000A时域反射计：空间分辨率0.1mm@50ps上升时间
Agilent85072A高温介电探头：温度范围-55℃~200℃，频率至110GHz
GWInstekLCR-8105G高频阻抗分析仪：测试频率至120MHz，基本精度0.05%
AnritsuME7808B宽带扫频系统：毫米波频段扩展至110GHz
SPDR校准套件：包含3.5mm/2.92mm/N型多规格校准件组
CSTStudioSuite电磁仿真软件：支持FIT/FEM混合算法建模验证
FlukeTi450红外热像仪：用于传输线温度分布监测（精度1℃）