检测项目
1. 纯度测定：采用差示扫描量热法（DSC）测定主成分含量（99.9%-99.999%）
2. 重金属杂质：原子吸收光谱法测定铅（≤5ppm）、汞（≤2ppm）、砷（≤3ppm）
3. 晶体结构分析：X射线衍射（XRD）测定晶格常数（a=4.47ű0.02）
4. 粒径分布：激光粒度仪检测D50值（1-5μm）及分散系数（PDI≤0.3）
5. 表面污染物：X射线光电子能谱（XPS）分析碳氧比（C/O≤0.15）
检测范围
1. 半导体级单晶/多晶碘化镉锭材（直径50-200mm）
2. 红外光学镀膜用高纯粉末（粒径0.5-10μm）
3. 光伏器件掺杂源材料（纯度≥99.99%）
4. 核辐射探测器晶体材料（厚度0.1-5mm）
5. 化学气相沉积（CVD）前驱体化合物（Cl⁻≤50ppm）
检测方法
ASTM E1479-16《原子吸收光谱法测定高纯材料中痕量金属》
ISO 17034:2016《标准物质生产者能力要求》
GB/T 11064.16-2021《碳酸锂中钠、钾、钙量的测定》扩展应用于卤化物检测
JIS K0115:2022《X射线衍射分析方法通则》
GB/T 30447-2013《纳米薄膜厚度测量方法》适用于镀膜材料表征
检测设备
1. Thermo Scientific iCE 3500原子吸收光谱仪（检出限0.1ppb）
2. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（角度精度±0.0001°）
3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪（测量范围0.01-3500μm）
4. Netzsch STA 449 F3同步热分析仪（温度精度±0.1℃）
5. Agilent 7900 ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪（质量范围2-260amu）
6. Shimadzu ESCA-3400 X射线光电子能谱仪（能量分辨率0.5eV）
7. PerkinElmer Lambda 950紫外可见近红外分光光度计（波长范围175-3300nm）
8. Zeiss EVO MA15扫描电子显微镜（分辨率3nm@30kV）
9. Metrohm 905 Titrando自动电位滴定仪（精度±0.1μL）
10. Mettler Toledo XPR6U微量天平（称量精度0.1μg）