检测项目
1.阈值波长测定：200-400nm光谱范围扫描，精度0.5nm
2.逸出功计算：基于Fowler-DuBridge模型分析，误差范围≤0.05eV
3.光电流强度测量：10-12-10-6A量程覆盖，分辨率1pA
4.量子效率评估：单色光入射角0-60可调，波长步长5nm
5.表面功函数测试：Kelvin探针法测量，空间分辨率10μm
检测范围
1.金属材料：铜(Cu)、铝(Al)、钨(W)及其合金表面处理层
2.半导体材料：硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)晶圆片
3.光伏组件：钙钛矿太阳能电池、硅基异质结电池
4.真空电子器件：光电倍增管(PMT)、X射线管阴极材料
5.纳米涂层材料：氧化锌(ZnO)、二氧化钛(TiO2)功能薄膜
检测方法
1.ASTME490-22a：太阳光谱辐照度基准测试规程
2.ISO21348:2021空间环境太阳紫外辐射测量规范
3.GB/T13301-2020金属材料逸出功测定通用方法
4.GB/T18912-2021光伏器件量子效率测试方法
5.IEC60904-8:2014光伏器件光谱响应度测量
检测设备
1.KEITHLEY2450源表：四象限电压/电流输出与精密测量
2.Agilent4156C精密半导体分析仪：纳安级电流分辨率
3.McPhersonModel234单色仪：0.5nm光谱带宽输出
4.OAIModel306紫外光源系统：200-450nm连续可调
5.KPTechnologySKP5050扫描开尔文探针：接触电位差测量
6.SciencetechSS150太阳模拟器：AM1.5G光谱匹配度A级
7.LakeShoreCRX-VF低温探针台：77K-500K温控测试
8.HamamatsuC9329光电倍增管模块：单光子计数模式
9.KeysightB2902A精密源表：双通道同步测量功能
10.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：纳米级表面形貌关联分析