检测项目

1.相对介电常数(εr):测量频率范围1kHz-1MHz,精度0.5%

2.介质损耗角正切(tanδ):分辨率达110-5,温度范围-40C至200C

3.频率特性曲线:扫频测试0.1MHz-3GHz,步进精度0.1%

4.温度系数(TCC):温控精度0.5C,测试范围-60C至300C

5.击穿场强:直流/交流模式可选,电压范围0-50kV

检测范围

1.高分子绝缘材料:聚四氟乙烯(PTFE)、聚酰亚胺薄膜等

2.陶瓷介质材料:氧化铝(Al2O3)、钛酸钡基陶瓷等

3.半导体材料:硅晶圆、碳化硅(SiC)基板等

4.复合材料:玻璃纤维增强环氧树脂、纳米掺杂聚合物等

5.液体电介质:变压器油、硅基冷却液等

检测方法

ASTMD150-18:平行板电容法测定固体材料介电特性

IEC60250:1969:射频段介质损耗测量标准方法

GB/T1409-2006:工频下固体绝缘材料介电性能测试

ISO6721-2:2019:动态介电分析(DETA)技术规范

GB/T1693-2007:硫化橡胶介电常数测定方法

检测设备

1.KeysightE4990A阻抗分析仪:频率范围20Hz至120MHz,支持多参数同步测量

2.NovocontrolAlpha-A高频介电谱仪:频率范围10μHz至20MHz,温控精度0.1C

3.Agilent4294A精密阻抗分析仪:40Hz至110MHz宽频测试,基本精度0.08%

4.HiokiIM3570阻抗分析仪:4Hz至5MHz频率范围,支持薄膜材料测试夹具

5.TREK610E高压放大器:输出电压0-20kV,用于击穿场强测试

6.ESPECPCT-322温控箱:温度范围-70C至+180C,支持循环温变测试

7.QuadTech7600精密LCR表:基本精度0.05%,支持四端对测量模式

8.NetzschDETA241介电分析仪:频率范围10-4-107Hz,集成自动样品台

9.MeggerIDAX-300绝缘诊断系统:支持10nF至100μF电容测量

10.GWInstekLCR-8105G:20Hz至200kHz宽频测试,标配三电极测试夹具