检测项目
1.同位素丰度测定（At-210至At-219同位素占比分析）
2.α放射性活度检测（测量范围0.01-100Bq/g）
3.化学形态分析（At⁻/AtO⁻/AtO3⁻离子态鉴别）
4.痕量杂质检测（检出限≤0.1μg/L）
5.半衰期验证（通过β-衰变曲线拟合计算）
检测范围
1.核医学靶向治疗药物（如At-211标记抗体）
2.半导体掺杂材料（高纯单质砹晶体）
3.环境样本（土壤/水体中At-210污染监测）
4.生物组织样本（放射性示踪剂代谢产物）
5.工业原料（稀土矿物伴生砹元素分析）
检测方法
1.ASTMC1475-19α谱分析法测定放射性核素
2.ISO17034痕量元素质谱分析通则
3.GB/T16145-2018放射性核素γ能谱测试方法
4.ISO18589-4土壤样品α能谱测量规程
5.GB/T11743-2013半导体材料杂质含量测定
检测设备
1.ORTECGEM60P4高纯锗γ谱仪（能量分辨率≤1.8keV）
2.ThermoiCAPRQICP-MS（检出限0.01ng/L）
3.CanberraAlphaAnalyst多通道α谱仪（本底≤0.05cpm）
4.Agilent8900三重四极杆ICP-MS/MS（质量分辨率0.025amu）
5.PerkinElmerNexION350D动态反应池质谱仪
6.BertholdLB770低本底α/β计数器
7.ShimadzuEDX-8100能量色散X荧光光谱仪
8.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜（配备EDS系统）
9.Metrohm930CompactICFlex离子色谱仪
10.RigakuZSXPrimusIV波长色散X荧光光谱仪