检测项目
1. 粒径分布：测量D10/D50/D90值（μm或nm级）
2. 比表面积：BET法测定（m²/g）
3. 颗粒形貌：球形度/长径比（0-1标度）
4. 堆积密度：振实密度测试（g/cm³）
5. 悬浮稳定性：Zeta电位测定（mV）
6. 孔隙率：压汞法/气体吸附法（%）
7. 最大颗粒限值：筛分法（μm级）
检测范围
1. 金属粉末：钛合金/316L不锈钢粉体（15-150μm）
2. 制药原料：API晶体/微球制剂（0.1-500μm）
3. 建筑材料：水泥熟料/石英砂（1-5000μm）
4. 纳米材料：碳纳米管/二氧化硅溶胶（1-100nm）
5. 食品添加剂：乳糖/碳酸钙微粒（10-200μm）
6. 陶瓷原料：氧化铝/氮化硅粉体（0.5-50μm）
检测方法
1. 激光衍射法：ISO 13320/ASTM B822/GB/T 19077
2. 动态光散射法：ISO 22412/GB/T 29022
3. 图像分析法：ISO 13322-2/ASTM E2651
4. 筛分法：ASTM E11/GB/T 6003.1
5. 气体吸附法：ISO 9277/GB/T 19587
6. X射线沉降法：ISO 13317-3/GB/T 5162
检测设备
1. Mastersizer 3000（马尔文帕纳科）：激光衍射仪（0.01-3500μm）
2. LS 13 320（贝克曼库尔特）：超声增强粒度分析仪（0.04-2000μm）
3. Nanosight NS300（马尔文帕纳科）：纳米颗粒跟踪分析仪（10-2000nm）
4. Micromeritics TriStar II Plus：比表面及孔隙度分析仪（0.35-500nm）
5. CILAS 1190LD（西拉斯）：干湿两用粒度仪（0.04-2500μm）
6. Horiba LA-960V2：全自动激光散射仪（10nm-5mm）
7. Sympatec HELOS系列：模块化激光衍射系统（0.1-8750μm）
8. Bettersize BT-9300ST：静态图像分析系统（1-30000μm）
9. Malvern Zetasizer Pro：动态光散射/Zeta电位联用仪（0.3nm-10μm）
10. Retsch AS200 control：电磁驱动筛分仪（20μm-125mm）