检测项目
粒径分布范围：检测1 nm-100 μm区间颗粒的D10/D50/D90值
比表面积测定：采用BET法测量0.01-2000 m²/g范围
孔隙结构分析：孔径分布（0.35-500 nm）及孔容（0.0001-2.0 cm³/g）
形貌特征量化：圆形度（0-1）、长径比（1:1-50:1）
团聚度评估：通过SEM/TEM图像分析二次粒子占比（≤30%）
检测范围
金属粉末：钛合金、316L不锈钢等增材制造用粉末
陶瓷颗粒：氧化铝、碳化硅等高温结构材料
催化剂载体：分子筛、活性氧化铝等多孔材料
纳米材料：碳纳米管、石墨烯等二维材料
制药原料：API颗粒、辅料微晶纤维素等
检测方法
气体吸附法：ISO 9277-2010（BET比表面）、GB/T 21650.2-2008（孔径分布）
激光衍射法：ISO 13320-2020（湿法/干法分散）、GB/T 19077-2016
动态光散射：ISO 22412-2017（纳米颗粒分散体系）
压汞法：ASTM D4404-18（大孔材料）、GB/T 21650.1-2008
图像分析法：ASTM E2859-11（SEM/TEM图像处理）
检测设备
BET比表面分析仪：Micromeritics TriStar II Plus（0.01-无上限m²/g）
激光粒度仪：Malvern Mastersizer 3000（0.01-3500 μm）
压汞仪：Quantachrome PoreMaster GT 60（3.6 nm-950 μm）
纳米粒度仪：Brookhaven ZetaPALS（0.6 nm-6 μm）
扫描电镜：Hitachi SU5000（1 nm分辨率，BSE探测器）
真密度仪：AccuPyc II 1340（氦气置换法，0.01%精度）