检测项目
频率响应范围检测：10 mHz-10 MHz，分辨率±0.1%
阻抗模值测量：0.1 Ω-10 MΩ，精度±0.5%
相位角分析：-180°至+180°，误差≤±0.1°
等效电路拟合：误差率≤3%
温度依赖性测试：-40°C至+150°C，温控±0.5°C
检测范围
金属基复合材料（如铝基碳化硅）
高分子介电材料（聚酰亚胺、PTFE）
锂离子电池电极材料（正极/负极片）
电子陶瓷元件（MLCC、压电陶瓷）
半导体器件（IGBT、MOSFET封装结构）
检测方法
电化学阻抗谱法（EIS）：ASTM G106, ISO 16797
交流阻抗分析法：GB/T 17626.2-2018
多频率扫描法：IEC 62391-1
时域反射法（TDR）：GB/T 21437.2-2008
宽频介电谱法：ASTM D150-11
检测设备
Solartron 1260A阻抗分析仪：频率范围10 μHz-32 MHz，支持多通道同步测试
KEYSIGHT E4990A阻抗分析仪：基本精度0.045%，内置直流偏置功能
Gamry Reference 3000电化学工作站：支持EIS与DC腐蚀联动分析
Novocontrol Concept 80宽频介电谱仪：温度范围-160°C至+400°C
HIOKI IM3590化学阻抗分析仪：兼容4端子对测量，频率范围0.1 Hz-200 kHz