检测项目

波前畸变:RMS值范围λ/20~λ/5(λ=632.8nm)

透射均匀性:局部透过率偏差±1%~±5%

面形精度:PV值≤λ/10~λ/2

材料折射率均匀性:Δn≤1×10-5

平行度偏差:≤10 arcsec

检测范围

光学玻璃:熔融石英、BK7、SF11等

晶体材料:氟化钙(CaF2)、铌酸锂(LiNbO3

薄膜涂层元件:抗反射膜、分光膜

聚合物光学材料:PMMA、PC透镜

红外光学材料:硒化锌(ZnSe)、硫化锌(ZnS)

检测方法

ASTM E903-20:透射光谱法测定材料均匀性

ISO 10110-5:2015:光学元件表面面形公差评估

GB/T 1800.3-2020:几何量公差测量规范

GB/T 26323-2010:激光波前分析仪校准方法

ISO 14997:2012:光学表面缺陷定量测试

检测设备

Zygo Verifire™ HDX激光干涉仪:波长632.8nm,分辨率0.1nm RMS

Shimadzu UV-3600 Plus分光光度计:光谱范围185~3300nm,精度±0.08%T

Trioptics OptiCentric®双轴准直仪:角度分辨率0.1 arcsec

Taylor Hobson CCI HD非接触式轮廓仪:垂直分辨率0.01Å

Photon S.A. HASO4 Wavefront Sensor:动态范围±50λ,空间分辨率256×256像素