检测项目
反射系数（S11/S22）：测量范围-50dB至+10dB，频率精度±0.5ppm
传输损耗（S21/S12）：动态范围120dB@10GHz，相位误差≤1°
群时延特性：分辨率0.1ps，线性度±3ps
相位稳定性：温度漂移±0.02°/℃（-40℃~+85℃）
阻抗匹配度：VSWR≤1.5:1（50Ω系统）
检测范围
高频电路板材料：RO4350B、PTFE基材等
微波无源器件：功分器、耦合器、环形器
天线系统：阵列天线、抛物面馈源
射频连接器：SMA、N型、7/16 DIN
滤波器组件：带通/带阻滤波器、双工器
检测方法
ASTM D5568-22：高频电路基板介电特性测试
ISO/IEC 17025:2017：射频参数测量不确定度评定
GB/T 11313.1-2018：射频连接器S参数测试规范
GB/T 17626.3-2023：电磁兼容射频场感应的传导骚扰抗扰度
IEC 61169-1-6:2021：射频连接器群时延测试方法
检测设备
Keysight PNA-X N5245B：频率范围10MHz-50GHz，支持多端口误差修正
Rohde & Schwarz ZVA67：最大输出功率+13dBm，时域分析功能
Anritsu VectorStar MS4647B：70kHz-70GHz宽带测试，内置脉冲调制器
Ceyear 3674E：国产化方案，支持TRL校准（26.5GHz）
Maury Microwave自动夹具移除法（AFR）：用于非连接器化DUT测试