可送检的样品类型与对应检测项目
| 样品类型 | 典型应用场景 | 主要检测项目 | 常用方法 / 参考 |
|---|---|---|---|
| 只读类光盘（音乐CD、VCD、CD-ROM、DVD-Video、DVD-ROM） | 音像制品发行、软件与教学资料分发、出版复制质量控制 | 反射率、块错误率、不可校正错误、抖晃、翘曲、径向跳动、偏心量、轨道间距 | ISO/IEC 10149:1995《信息技术 120mm只读光盘数据交换》；ECMA-267:2001《120mm DVD只读光盘》 |
| 可录类光盘（CD-R、DVD-R、DVD+R、蓝光BD-R） | 档案数据刻录、企业冷备份、音像复制样盘验证 | 有机染料记录层光谱吸收、写入前反射率、写入后块错误率、奇偶校验错误、抖晃、寿命估算 | 橙皮书第二部分可录光盘系统描述；ECMA-379:2007温湿度应力寿命估算方法 |
| 可擦写类光盘（CD-RW、DVD-RW、DVD+RW、DVD-RAM） | 循环擦写存储、工控与车载历史数据记录 | 高低态反射率、相变层结晶状态、循环擦写耐久、误码恢复能力、抖晃漂移 | ECMA-338:2002《120mm DVD可重写光盘》 |
| 蓝光光盘（BD-R、BD-RE） | 高清音像母版保存、大容量归档备份 | 轨道间距0.32微米级几何量、抖晃、奇偶校验错误、覆盖层厚度与偏心 | 蓝光格式白皮书系统描述；ECMA-379:2007寿命估算参照 |
| 基板与原材料（聚碳酸酯颗粒、PC基板、金属反射膜层） | 光盘生产来料检验、注塑工艺调试、供应商批次比对 | 熔体流动速率、透光率、雾度、双折射、含水率、拉伸与弯曲强度、膜层厚度与成分 | GB/T 3682-2000；GB/T 2410-2008；GB/T 1040.2-2006；GB/T 14486-2008 |
| 母盘与压模（玻璃母盘、电铸镍版） | 复制工业母版开发、压模批量验收 | 坑点几何尺寸、轨道间距、表面粗糙度、电铸层厚度与硬度、微缺陷计数 | 工具显微镜与原子力显微镜几何量测定；GB/T 14486-2008尺寸公差 |
检测项目
1. 反射率：CD铝反射层典型不低于70%，DVD单层盘片典型范围45%~85%，写入前后高低态反射率差值用于记录质量判定
2. 误码特性：CD块错误率每秒不超过220且不可校正错误E32为零；DVD奇偶校验内码错误Sum8不超过280、奇偶校验外码失败Sum1不超过4
3. 抖晃：CD数据抖晃不大于35纳秒，DVD高频信号抖晃不大于8%，超限会加重解码纠错负担
4. 几何参数：盘片外径120毫米、厚度1.2毫米正负0.1毫米、中心孔径15毫米；轨道间距CD为1.6微米、DVD为0.74微米、蓝光为0.32微米；翘曲与径向跳动按相应规范限值判定
5. 加速老化寿命：80至85摄氏度、85%相对湿度应力下烘烤后复测误码与抖晃，外推档案存储寿命并给出贮存建议
6. 基板材料性能：聚碳酸酯透光率不低于88%、雾度小、双折射光程差控制在数十纳米量级，熔体流动速率按标称值正负偏差验收
检测范围
1. 只读光盘：音乐CD、VCD、CD-ROM、DVD-Video、DVD-ROM等出版复制盘
2. 可录光盘：CD-R、DVD-R、DVD+R、蓝光BD-R及档案级刻录盘
3. 可擦写光盘：CD-RW、DVD-RW、DVD+RW、DVD-RAM相变可重写盘
4. 存储介质材料：聚碳酸酯颗粒与基板、铝银合金反射膜层、偶氮与酞菁类有机染料记录层
5. 复制工业配件：玻璃母盘、电铸镍母盘、压模及印刷标牌层
检测方法
1. ISO/IEC 10149:1995 信息技术 120mm只读光盘（CD）数据交换
2. ECMA-267:2001 120mm DVD只读光盘数据交换技术规范
3. ECMA-379:2007 温湿度应力下可录光盘寿命估算试验方法
4. GB/T 2410-2008 透明塑料透光率和雾度的测定
5. GB/T 14486-2008 塑料模塑件尺寸公差
6. GB/T 1040.2-2006 塑料拉伸性能的测定 第2部分：模塑和挤塑塑料的试验条件
检测设备
1. 光盘误码分析仪：支持CD块错误率与E22、E32统计及DVD奇偶校验错误统计，转速适配1倍速至16倍速
2. 时基抖晃测试仪：时基分辨率1纳秒，配合高频信号眼图分析
3. 紫外可见分光光度计：波长范围190~1100纳米，配积分球反射附件
4. 激光椭圆偏振测厚仪：膜厚范围1~1000纳米，分辨率0.1纳米
5. 工具测量显微镜：放大倍数50~1000倍，读数精度1微米
6. 激光位移翘曲测量台：平面度分辨能力1微米，可测径向与切向翘曲角度
7. 恒温恒湿试验箱：温度范围零下40至150摄氏度，相对湿度10%~98%
8. 氙灯耐气候试验箱：340纳米处辐照度0.35~1.50瓦每平方米每纳米可调
9. 电感耦合等离子体发射光谱仪：反射层与染料层元素成分定量，检出限低至0.001毫克每升
10. 熔体流动速率仪：温度上限400摄氏度，质量法精度0.5%