可送检的样品类型与对应检测项目
| 样品类型 | 典型应用场景 | 主要检测项目 | 常用方法 / 参考 |
|---|---|---|---|
| 纯银挂片（硫化敏感剂量片） | 特气管路、洁净室氛围硫化活性监测 | 硫化银膜厚、变色等级、单位面积增重 | GB/T 2423.20-2014硫化氢气氛暴露后荧光测厚 |
| 纯铜挂片（综合腐蚀指示片） | 气路氛围综合腐蚀性普查与批次比对 | 铜复合膜厚、点蚀深度、增重率 | GB/T 2423.19-2013或GB/T 2423.51-2020暴露后金相截面测厚 |
| 铜银双片联测组合（同架配对） | 同一位置同步暴露，双金属联判氛围构成 | 双片膜厚比、变色序列对比、速率折算 | GB/T 2423.51-2020流动混合气体同架暴露 |
| 管路在线监测挂片（取样口布放） | 产线特气系统运行氛围跟踪 | 现场累积膜厚、增长速率、区段差异 | 现场布放按计划取片，荧光或金相截面测厚 |
| 镀覆样片（镀镍、镀银触点代用片） | 电接触件氛围适应性代用考核 | 镀层膜厚变化、孔隙显化、覆盖层评级 | GB/T 9789-2008凝露二氧化硫暴露结合GB/T 6461-2002评级 |
| 交替工况暴露挂片 | 干湿与气氛交变环境的累积评价 | 交替累积膜厚、干湿交替增重 | GB/T 28416-2012交替暴露后称重与测厚 |
检测项目
1. 硫化银膜厚：X射线荧光法无损测量，纳米级至微米级量程，记录剂量与膜厚的对应关系
2. 铜复合膜厚与分层：金相截面几何测厚，分辨率达微米级以下，能谱辅助区分氧化物与硫化物分层
3. 单位面积增重：读数精度0.01毫克称量，结果以毫克每平方厘米表述，作为积分量校核
4. 变色等级：按GB/T 6461-2002记录外观等级，配合分光测色色度轨迹跟踪
5. 点蚀深度：金相截面测量最大蚀坑深度并统计蚀点密度
6. 膜厚增长速率：膜厚除以累积暴露时长折算，供批次与布放位置间横向比对
检测范围
1. 纯银挂片：高纯银板裁切，镜面或规定粗糙度表面，尺寸按试验容器定制
2. 纯铜挂片：紫铜板裁切，经清洗活化后使用
3. 双金属组合挂片：铜银同架配对，绝缘垫隔离固定
4. 镀覆样片：镀镍、镀银、镀金触点代用片
5. 现场监测挂片：特气管路取样口、洁净室回风口等位置布放片
检测方法
1. GB/T 2423.20-2014 环境试验 试验Kd硫化氢气氛试验
2. GB/T 2423.19-2013 环境试验 试验Kc二氧化硫气氛试验
3. GB/T 2423.51-2020 环境试验 试验Ke流动混合气体腐蚀试验
4. GB/T 9789-2008 金属和其他无机覆盖层 通常凝露条件下的二氧化硫腐蚀试验
5. GB/T 28416-2012 人工大气中的腐蚀试验 交替暴露在腐蚀性气体、中性盐雾及干燥环境中的加速腐蚀试验
6. GB/T 6461-2002 金属基体上金属和其他无机覆盖层 经腐蚀试验后的试样和试件的评级
检测设备
1. 流动混合气体腐蚀试验箱：多路配气浓度控制达十亿分之一量级，温湿度程序可控，整机按GB/T 5170.11-2017检验
2. X射线荧光膜厚仪：薄膜测量下限纳米级，支持多层膜系单层测厚
3. 椭圆偏振测厚仪：光学法测量透明与半透明膜，纳米级分辨率
4. 金相显微镜：500倍以上放大，截面膜厚与蚀坑深度测量
5. 金相制样装置：镶嵌、研磨与抛光功能，保证截面真实膜厚不崩边
6. 扫描电镜及能谱附件：膜层形貌观察与微区成分分析，区分氧化物与硫化物
7. 微量天平：读数精度0.01毫克，暴露前后称量增重
8. 分光测色仪：记录变色色度轨迹，与外观等级并用
9. 恒温恒湿存储柜：取片后受控湿度暂存，避免膜层吸湿变化