检测项目
粒径分布：动态光散射法（DLS）测量10-500nm范围，PDI值≤0.3
表面氨基含量：X射线光电子能谱（XPS）定量分析，检测限0.1at%
Zeta电位：电泳光散射法测定-50mV至+50mV区间
元素组成：ICP-MS检测金属杂质含量（Fe、Ni、Co等）≤10ppm
形貌结构：透射电镜（TEM）观测晶格间距0.2-0.35nm
检测范围
纳米复合高分子材料（聚酰胺/聚乙烯基复合材料）
生物医药载体（靶向药物递送系统）
工业催化剂（氨合成/加氢反应催化剂）
功能涂层材料（抗菌/导电涂层）
环保吸附材料（重金属离子捕集剂）
检测方法
ASTM E2490-2021 激光衍射法测定粒径分布
ISO 22412:2017 动态光散射纳米颗粒表征
GB/T 30448-2013 纳米粉体zeta电位测试
ISO 20903:2019 XPS表面化学分析标准
GB 31604.8-2021 食品接触材料金属迁移量检测
检测设备
马尔文Zetasizer Nano ZS：同步测定粒径与zeta电位，温度控制±0.1℃
Thermo Fisher ESCALAB Xi+ XPS：单色Al Kα光源，空间分辨率3μm
JEOL JEM-2100F TEM：点分辨率0.19nm，配备EDS能谱仪
Agilent 7900 ICP-MS：质量范围2-260amu，检出限0.1ppt
TA Instruments Q2000 DSC：热分析精度±0.1℃，温度范围-90~550℃