检测项目

晶粒尺寸分布：测量范围0.5μm–500μm，偏差精度±2%

位错密度分析：分辨率≥10⁶ cm^-2，误差＜5%

晶界取向差角：角度范围2°–62.8°，EBSD步长0.05–5μm

孪晶界比例：检测阈值0.1%，统计样本≥1000晶粒

析出相分布均匀性：相尺寸检测下限10nm，面积占比分析精度±0.5%

检测范围

金属材料：铝合金（AA6061/7075）、钛合金（Ti-6Al-4V）、高温合金（Inconel 718）

陶瓷材料：氧化铝（Al₂O₃）、氮化硅（Si₃N₄）

半导体材料：单晶硅（Si）、砷化镓（GaAs）

高分子材料：聚乙烯（UHMWPE）、聚四氟乙烯（PTFE）

复合材料：碳纤维增强环氧树脂（CFRP）、金属基复合材料（MMC）

检测方法

ASTM E112：晶粒度测定标准（适用金属及合金）

ISO 17721-1:2021：透射电镜（TEM）位错密度定量分析

GB/T 13298-2015：金相显微镜晶界腐蚀与观察规范

ASTM E2627：电子背散射衍射（EBSD）取向成像

ISO 22262-2:2020：X射线衍射（XRD）残余应力检测

检测设备

扫描电子显微镜（SEM）：FEI Nova NanoSEM 450，配备EDAX EBSD系统，分辨率1.0nm@15kV

透射电子显微镜（TEM）：JEOL JEM-ARM200F，球差校正，点分辨率0.08nm

X射线衍射仪：Bruker D8 ADVANCE，Cu靶Kα辐射（λ=0.154nm），角度精度±0.001°

金相显微镜：Leica DM2700M，偏振光模式，最大放大倍数1000×

原子力显微镜（AFM）：Bruker Dimension Icon，峰值力轻敲模式，Z轴分辨率0.1nm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与晶粒内结构检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。