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掺杂剂检测

  • 原创官网
  • 2025-03-10 15:24:12
  • 关键字:掺杂剂测试机构,掺杂剂测试周期,掺杂剂测试仪器
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掺杂剂检测概述:掺杂剂检测是材料科学和工业生产中的关键分析环节,主要针对半导体、光伏、高分子等材料中的微量添加成分进行定量与定性分析。检测重点涵盖元素种类、浓度梯度、分布均匀性及化学态表征,需采用高精度仪器结合国际/国家标准方法,确保数据准确性和工艺合规性。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

元素种类鉴定:检测硼、磷、砷等III/V族元素及过渡金属掺杂成分

浓度定量分析:测量掺杂浓度范围0.1ppm-10%,精度±2%

三维分布表征:横向分辨率≤50nm,深度分辨率≤5nm

化学态分析:检测替代位/间隙位掺杂占比,结合能偏差±0.1eV

晶格匹配度评估:晶格畸变量检测灵敏度0.01%

检测范围

半导体材料:硅片、砷化镓、氮化镓等单晶/多晶材料

光伏材料:PERC电池掺杂层、钙钛矿薄膜

高分子复合材料:导电塑料、离子交换树脂

金属合金:航空钛合金、稀土永磁材料

陶瓷材料:氧化锆增韧陶瓷、压电陶瓷

检测方法

二次离子质谱(SIMS):ASTM E1504,GB/T 32281

X射线光电子能谱(XPS):ISO 15472,GB/T 28894

辉光放电质谱(GD-MS):ASTM E3047,GB/T 41064

透射电子显微镜(TEM):ISO 25498,GB/T 27788

卢瑟福背散射谱(RBS):ISO 22309,GB/T 41630

检测设备

Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS:检测限0.01ppb,质量范围2-290amu

Cameca IMS 7f SIMS:空间分辨率40nm,深度剖析速率1nm/s

Kratos AXIS Supra XPS:单色Al Kα源,能量分辨率≤0.45eV

JEOL JEM-ARM300F TEM:点分辨率0.08nm,STEM模式成分成像

Horiba GD-Profiler 2:深度分析速率1μm/min,元素检出限0.1ppm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与掺杂剂检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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