检测项目

场致发射电流密度：测量电压范围0.1-30kV下单位面积发射电流（μA/cm）

功函数测定：采用Kelvin探针法测量表面功函数（eV），精度0.02eV

热发射特性：测试800-2000K温度区间的饱和电流密度（A/cm）

场增强因子计算：通过Fowler-Nordheim曲线拟合获取β值（10-10⁶量级）

发射均匀性分析：使用微通道板探测器进行空间分辨率≤5μm的二维分布测量

检测范围

阴极材料：氧化钪钨阴极、六硼化镧单晶等热电子发射体

场发射阵列：硅基/碳基纳米锥阵列（尖端曲率半径＜50nm）

半导体器件：GaNHEMT器件栅极电子溢出特性分析

真空电子元件：行波管慢波结构二次电子产额测定

新型纳米材料：石墨烯边缘/碳纳米管场致发射性能评估

检测方法

ASTMF1711-08(2020)：场致发射显示器测试标准真空室法

ISO21283:2018：扫描探针显微镜功函数测量技术规范

GB/T31307-2014：热阴极发射特性测试规程（直流法）

IEC60384-18:2016：电子元件表面二次电子发射系数测定

GB/T35032-2018：场发射电流噪声功率谱测试方法

检测设备

JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜：配备In-lensSE探测器实现5nm分辨率形貌分析

KeysightB1500A半导体分析仪：支持10fA-1A宽范围电流测量能力

RHKUHVVT-STM系统：超高真空（＜510⁻⁸Pa）下原子级功函数测量

KimballPhysicsF-100场发射测试系统：配备双微通道板电子成像装置

Agilent4155C参数分析仪：支持脉冲模式下的瞬态发射特性测试

OmicronMultiprobeXPS/UPS联用系统：同步获得表面化学态与逸出功数据

AdvantestR6243高压电源模块：输出精度0.05%的30kV直流高压

PhotonisP43荧光屏探测器：用于二维电子空间分布成像分析

LakeShoreCRX-VF低温恒温器：实现4.2-500K变温环境控制

HidenEQP300质谱分析仪：实时监测残余气体对电子发射的影响

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与电子发射检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。