检测项目

1.纯度分析:CeF₃含量≥99.9%(质量分数),采用差减法计算主成分含量

2.杂质元素检测:Fe≤50ppm、Ca≤100ppm、Si≤80ppm(ICP-MS法测定)

3.粒度分布:D50=3-5μm(激光衍射法),分布宽度PDI<0.3

4.晶体结构分析:六方晶系(空间群P6₃/mmc),晶胞参数a=7.120.02

5.热稳定性测试:TG-DSC联用测定分解温度>900℃(N₂气氛)

检测范围

1.光学玻璃制造原料:用于紫外截止滤光片基材的氟化铈粉末

2.稀土催化剂前驱体:汽车尾气净化用CeO₂-F复合催化材料

3.特种陶瓷添加剂:改善微波介质陶瓷介电性能的掺杂剂

4.核工业屏蔽材料:中子吸收复合材料中的功能组分

5.电子元器件镀膜材料:真空蒸镀用高纯氟化铈颗粒

检测方法

1.ASTMC1605-04(2020)稀土氧化物中杂质元素测定规范

2.ISO21587-3:2007硅酸盐材料化学分析-电感耦合等离子体发射光谱法

3.GB/T20127-2006金属材料火花放电原子发射光谱法通则

4.GB/T17417.2-2010稀土矿石化学分析方法X射线荧光光谱法

5.ISO13320:2020粒度分析-激光衍射法通用要求

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:物相鉴定与晶体结构解析

2.Agilent7900ICP-MS:痕量元素定量分析(检出限0.01ppb)

3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:0.01-3500μm粒径测量

4.NetzschSTA449F3同步热分析仪:-150℃~1650℃热性能测试

5.ShimadzuEDX-7000X荧光光谱仪:主成分快速筛查(Be-U元素)

6.PerkinElmerOptima8300ICP-OES:常量元素定量分析

7.BrukerD8ADVANCEXRD系统:高温原位晶体结构分析

8.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪:分子振动模式表征

9.MettlerToledoXSE105DU分析天平:0.01mg精度称量

10.LeicaDM4M金相显微镜:5000倍显微形貌观察