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高纯锡检测

  • 原创官网
  • 2025-04-02 09:13:33
  • 关键字:高纯锡测试周期,高纯锡测试方法,高纯锡测试仪器
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高纯锡检测概述:高纯锡检测是保障电子材料、半导体及精密合金性能的关键环节。本文系统阐述纯度分析(≥99.99%)、杂质元素控制(As/Pb/Cu≤1ppm)等核心指标,涵盖电子焊料、镀锡基材等典型样品类型,依据ASTME1479、GB/T32651等标准方法解析电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)等设备的应用规范。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1. 纯度分析:Sn含量≥99.99%(4N级),采用差减法计算主成分占比

2. 杂质元素含量:As≤0.5ppm、Pb≤1ppm、Cu≤0.8ppm等17种痕量元素控制

3. 氧含量测定:氧元素≤10ppm(惰性气体熔融红外法)

4. 表面质量检验:裂纹深度≤5μm、夹杂物尺寸≤3μm(金相显微镜法)

5. 物理性能测试:密度7.28-7.31g/cm³、维氏硬度HV≥10

检测范围

1. 电子级焊料:无铅焊锡丝/片(Sn96.5Ag3.0Cu0.5)

2. 镀锡基材:钢板/铜带表面镀层(厚度2-15μm)

3. 半导体封装材料:BGA锡球(直径0.1-0.76mm)

4. 高纯锡锭:Sn-04N级原料锭(重量15-25kg)

5. 特种合金前驱体:Sn-Ag-Cu系预合金粉末(粒径10-45μm)

检测方法

1. ASTM E1479-16:电感耦合等离子体质谱法测定痕量杂质

2. GB/T 32651-2016:辉光放电质谱法分析金属杂质分布

3. ISO 10504-2:2021:惰气熔融红外吸收法测定氧含量

4. GB/T 17476-2020:X射线荧光光谱法主成分快速筛查

5. ASTM B339-20:金相显微镜法评估表面缺陷形貌

检测设备

1. Agilent 7900 ICP-MS:检出限达0.01ppb的痕量元素分析系统

2. Thermo Fisher ELEMENT GD-MS:深度分辨率10nm的辉光放电质谱仪

3. LECO ONH836:氧氮氢联测仪(测量精度±0.1ppm)

4. Bruker S8 TIGER XRF:波长色散型X射线荧光光谱仪

5. Olympus DSX1000:景深扩展三维金相显微镜(5000倍率)

6. Malvern Mastersizer 3000:激光粒度分析仪(0.01-3500μm)

7. PerkinElmer STA 8000:同步热分析仪(TG-DSC联用)

8. Instron 5967:双立柱万能试验机(载荷50kN)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与高纯锡检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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