检测项目
1. 氮化锂纯度测定：采用非水滴定法测定主成分含量（≥99.5%为工业级合格线）。
2. 氧含量分析：通过惰性气体熔融红外法检测氧杂质（限值≤0.3wt%）。
3. 粒径分布测试：激光粒度仪测定D50值（典型范围1-10μm）及分散度（PDI＜0.3）。
4. 晶体结构表征：XRD分析立方晶系结构完整性（半峰宽≤0.15°）。
5. 金属杂质检测：ICP-MS测定Fe、Ni、Cu等痕量元素（单项≤50ppm）。
检测范围
1. 锂离子电池负极材料：评估预锂化工艺中氮化锂的残留量与反应活性。
2. 高温陶瓷添加剂：检测烧结过程中氮化锂的热稳定性与相变特性。
3. 固态电解质前驱体：验证Li3N中间体的合成纯度与晶格参数。
4. 储氢材料改性剂：分析氮化锂表面吸附性能与氢扩散系数相关性。
5. 光电半导体镀膜材料：测定薄膜沉积用高纯氮化锂的颗粒形貌与比表面积。
检测方法
1. ASTM E1479-16：惰性气体熔融法测定金属锂化合物中氧/氮含量。
2. ISO 13320:2020：激光衍射法规范粉末粒度分布测试流程。
3. GB/T 24533-2019：锂离子电池石墨类负极材料中杂质元素检测方法。
4. ISO 20203:2005：X射线衍射法定量分析碳化硅基材料晶体结构。
5. GB/T 17473.7-2008：电子工业用贵金属浆料化学分析方法通则。
检测设备
1. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm，配备Hydro LV湿法分散模块。
2. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：Cu靶Kα辐射源（λ=1.5406Å），扫描步长0.02°。
3. LECO ON836氧氮分析仪：脉冲加热温度达3000℃，红外池分辨率0.01ppm。
4. PerkinElmer NexION 350D ICP-MS：动态反应池技术消除质谱干扰，检出限达ppt级。
5. Metrohm 905 Titrando电位滴定仪：支持非水溶剂体系滴定精度±0.1μL。
6. Micromeritics ASAP 2460比表面分析仪：BET法测量范围0.0005-无上限m²/g。
7. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪：TG-DSC联用温度范围-150℃-2000℃。
8. JEOL JSM-7900F场发射扫描电镜：分辨率1nm@15kV，配备EDS能谱附件。