1. 端面几何尺寸:曲率半径(5-25mm)、顶点偏移(≤50μm)、光纤高度差(±0.05μm)
2. 表面粗糙度:Ra≤0.02μm(PC型)、Ra≤0.05μm(APC型)
3. 划痕与凹坑:最大缺陷长度≤20μm(IEC 61300-3-35)
4. 端面角度:APC型8°±0.5°(Telcordia GR-326)
5. 清洁度等级:颗粒污染物≤100μm(ISO 14644-1 Class 5)
1. 单模/多模光纤连接器(FC/SC/LC/ST型)
2. 高密度MT系列光纤阵列
3. 特种光纤端面(保偏光纤/光子晶体光纤)
4. 光模块组件(COB封装/硅光芯片耦合面)
5. 光纤传感器端面(FBG/Fabry-Perot干涉结构)
1. 干涉法测量:依据ISO 17526:2003进行三维形貌重建
2. 显微成像法:执行GB/T 9771.3-2020表面缺陷判定
3. 白光共聚焦法:符合ASTM E1817-08粗糙度测量规范
4. 接触式轮廓术:参照GB/T 6062-2017几何参数测量
5. 激光散射法:满足IEC 61300-3-35清洁度分级标准
1. Veeco NT9100光纤端面干涉仪:三维形貌测量精度±0.01μm
2. Olympus MX63金相显微镜:5000倍光学放大+自动缺陷识别
3. Taylor Hobson PGI1240轮廓仪:接触式测量分辨率0.1nm
4. Keyence VK-X3000激光共聚焦显微镜:非接触式粗糙度分析
5. Agilent 8703B插入损耗测试系统:配合端面质量验证
6. OptoTest OP940偏振分析仪:保偏光纤对准角测量
7. EXFO FIP-430B光纤端面检查仪:现场快速缺陷筛查
8. Mitutoyo MF-U系列高精度测微头:机械尺寸验证装置
9. Leica DCM8三维表面分析仪:纳米级缺陷深度测量
10. Vision Engineering Lynx EVO视频探头:大曲率端面观测
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光纤端面加工检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。