1. 奈尔温度测定:通过磁化率-温度曲线确定反铁磁相变点(测量范围:4K-1000K)
2. 磁化率各向异性分析:采用旋转样品法测量χ∥与χ⊥比值(精度±0.05%)
3. 磁滞回线测量:在±7T磁场下获取剩余磁化强度(Mr≤10-3 emu/g)
4. 比热容异常检测:低温段(2K-50K)比热容突跃点定位(分辨率0.1mJ/mol·K)
5. 中子衍射结构解析:测定磁矩排列周期(晶格分辨率0.01Å)
1. 过渡金属氧化物:NiO、CoO、FeO等单晶/多晶体系
2. 合金材料:FeMn反铁磁记忆合金、IrMn交换偏置层
3. 稀土化合物:GdPt2、DyAl2等低温反铁磁体
4. 半导体材料:CuO纳米线、Cr2O3薄膜异质结
5. 超薄薄膜材料:FeO/Fe双层膜界面耦合体系
1. ASTM A894:反铁磁体饱和磁矩标准测试法
2. ISO 19818-2:中子散射法测定磁结构技术规范
3. GB/T 20118-2017:低温振动样品磁强计操作规程
4. ISO 21735:X射线磁圆二色性(XMCD)表征方法
5. GB/T 36576-2018:反铁磁薄膜交换偏置场测量标准
1. Quantum Design PPMS DynaCool:综合物性测量系统(磁场范围±9T)
2. Lake Shore 8600系列振动样品磁强计:灵敏度10-8 emu
3. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:配备高温低温附件(-196℃-1200℃)
4. Oxford Instruments Teslatron PT:超导磁体系统(最大场强12T)
5. NETZSCH DSC 214 Polyma:差示扫描量热仪(温度分辨率0.01K)
6. TOYO ResiTest8340高阻计:电阻率测量范围10-3-1016 Ω·cm
7. JEOL JEM-ARM300F球差校正电镜:原子级磁结构表征
8. RHK Technology XA系列SPM:空间分辨磁畴成像系统
9. PANalytical Empyrean X射线衍射仪:薄膜面内/面外结构分析
10. Advanced Research Systems DE-210闭循环制冷机:连续变温平台(3K-325K)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与反铁磁性物质检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。