检测项目

1.波长范围覆盖性：380-2500nm波段内色散特性分析

2.双折射率测量：Δn=510⁻⁵~110⁻精度范围

3.相位延迟量：0.1-1000nm精度0.05nm

4.色散系数：Abbe数VD=20-80测量误差≤0.5

5.偏振相关损耗：PDL≤0.02dB@1550nm

检测范围

1.光学晶体：LiNbO₃、YVO₄、α-BBO等单轴/双轴晶体

2.液晶材料：向列相液晶盒相位延迟器件

3.光纤器件：保偏光纤、光子晶体光纤

4.光学薄膜：多层介质膜波片、偏振分光膜

5.微纳光学元件：超表面相位延迟器件

检测方法

1.ISO13696:2019《光学元件激光损伤阈值测试》第7章色散测试法

2.GB/T12085.14-2022《光学系统环境试验方法》双折射测试规范

3.ASTMF218-20《液晶显示器光学特性测试标准》

4.JISC6186:2020《光纤偏振特性测量程序》

5.DIN58197-3:2018《光学薄膜相位延迟测量方法》

检测设备

1.J.A.WoollamM-2000UI光谱椭偏仪：380-1700nm宽谱测量，双折射分辨率110⁻⁵

2.ThorlabsPAX1000偏振分析仪：支持1550nm通信波段PDL测量

3.ShimadzuSPR-01分光旋光仪：589nm波长精度0.01

4.HindsExicor150AT双光路干涉仪：相位延迟测量重复性0.02nm

5.Agilent8509C偏振测试系统：10MHz-20GHz频段色散分析

6.OceanInsightQEPro光谱仪：200-1100nm高灵敏度色散测量

7.NewportAutoMatchII光弹调制系统：动态双折射实时监测

8.ZygoVerifireMST干涉仪：λ/100波前精度相位测量

9.EXFOFTB-5240BP保偏分析仪：光纤PMD精确至0.01ps/√km

10.HoribaUVISEL2相位调制椭偏仪：深紫外至近红外全波段覆盖

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与光轴角色散检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。