杂散光发射检测概述:检测项目1.光谱分布范围:400-2500nm波段内杂散光强度分布测量2.辐射强度测试:0.1μW/cm至100mW/cm量程线性度验证3.角度分布特性:180空间角分辨率达0.1的散射光分布测绘4.偏振特性分析:消光比≥100:1的偏振敏感度测试5.时间稳定性评估:连续72小时2%波动范围的长期稳定性监测检测范围1.光学镀膜元件:包括AR/IR截止滤光片、分光镜等表面散射特性2.激光器模块:半导体激光器与固体激光器的ASE背景辐射3.光纤通信设备:连接器端面回波损耗及弯曲辐射测试4.成像镜头组:鬼像分析
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.光谱分布范围:400-2500nm波段内杂散光强度分布测量
2.辐射强度测试:0.1μW/cm至100mW/cm量程线性度验证
3.角度分布特性:180空间角分辨率达0.1的散射光分布测绘
4.偏振特性分析:消光比≥100:1的偏振敏感度测试
5.时间稳定性评估:连续72小时2%波动范围的长期稳定性监测
1.光学镀膜元件:包括AR/IR截止滤光片、分光镜等表面散射特性
2.激光器模块:半导体激光器与固体激光器的ASE背景辐射
3.光纤通信设备:连接器端面回波损耗及弯曲辐射测试
4.成像镜头组:鬼像分析与杂散光系数(VE值)测定
5.显示面板:OLED/LCD屏幕非显示区漏光量化评估
ASTME387-04(2020):光谱辐射计法测量光学系统杂散光系数
ISO13695:2004:光学元件光谱偏振特性测试规范
GB/T26331-2010:光学系统杂散光系数测量方法
GB7247.1-2012:激光产品辐射安全等级分类测试
IEC60825-1:2014:激光设备发射水平及散射特性评估
OceanOpticsHR4000高分辨率光谱仪:波长精度0.1nm,动态范围105dB
OphirVega激光功率计:量程10nW-30W,支持CW/脉冲模式测量
Newport1918-R光强分布测试仪:空间角分辨率0.01,扫描速度50点/秒
LabsphereCDS1000杂散光测试系统:符合ISO13695标准的全自动测试平台
BenthamTMC300单色仪:波长重复性0.02nm,搭配InGaAs探测器扩展至2500nm
ThorlabsPAX1000偏振分析仪:消光比测量精度0.5dB@1550nm
Spectralon积分球:直径500mm,反射率>99%的均匀光源系统
FLIRSC8000红外热像仪:3-5μm波段热辐射成像分析模块
Agilent81600B可调谐激光源:波长调谐步长0.001nm,输出功率稳定性0.01dB
ZYGO干涉仪:面形精度λ/100的散射特性关联分析系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与杂散光发射检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。