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解象能力检测

  • 原创官网
  • 2025-05-15 21:33:51
  • 关键字:解象能力测试范围,解象能力测试案例,解象能力测试仪器
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解象能力检测概述:检测项目1.空间分辨率:最小可识别线宽0.5-500μm(依据ISO12233标准)2.调制传递函数(MTF):频率范围10-200lp/mm(符合ASTME2091规范)3.几何畸变率:径向畸变≤0.15%,切向畸变≤0.08%(按GB/T17409要求)4.像散角偏差:轴向偏差0.5,切向偏差0.3(参照ISO9039标准)5.对比度灵敏度:灰阶识别能力≥256级(基于ISO15775测试规范)检测范围1.光学玻璃:包括棱镜、透镜等折射元件(厚度0.1-50mm)2.半导体晶圆:硅基/化合物半导体(直


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

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检测项目

1.空间分辨率:最小可识别线宽0.5-500μm(依据ISO12233标准)

2.调制传递函数(MTF):频率范围10-200lp/mm(符合ASTME2091规范)

3.几何畸变率:径向畸变≤0.15%,切向畸变≤0.08%(按GB/T17409要求)

4.像散角偏差:轴向偏差0.5,切向偏差0.3(参照ISO9039标准)

5.对比度灵敏度:灰阶识别能力≥256级(基于ISO15775测试规范)

检测范围

1.光学玻璃:包括棱镜、透镜等折射元件(厚度0.1-50mm)

2.半导体晶圆:硅基/化合物半导体(直径150-300mm)

3.摄像头模组:手机/工业相机镜头(像素尺寸0.8-10μm)

4.显示屏面板:LCD/OLED/Micro-LED(PPI300-3000)

5.医疗内窥镜:硬镜/软镜系统(视场角60-140)

检测方法

ASTME112-13:晶粒度测定与图像分析法

ISO12233:2017:电子静态图片分辨率测试规程

GB/T9246-2008:液晶显示器件光学特性测量方法

ISO15775:2015:光学系统对比度传递函数测定

GB/T17409-2018:光学零件面形偏差检验方法

检测设备

1.奥林巴斯STM6系列测量显微镜:放大倍率50-1000X,重复精度0.1μm

2.蔡司LSM900激光共聚焦显微镜:Z轴分辨率1nm,3D重构功能

3.TriopticsImageMasterHRMTF测试仪:最大测试频率600lp/mm

4.OptikosOptiTestOSLO系统:波前像差分析精度λ/20RMS

5.RadiantProMetricY45成像色度计:4200万像素科学级CMOS

6.KeyenceVHX-7000数字显微镜:4K超景深三维测量系统

7.ThorlabsWFS-300波前传感器:Shack-Hartmann原理,采样率1kHz

8.EdmundOpticsMTFBench系统:支持C/CS接口镜头自动测试

9.NikonNIS-ElementsAR分析软件:支持PSF/LSF/MTF多维度计算

10.AgilentCary7000全能型分光光度计:光谱范围175-3300nm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与解象能力检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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