梯度薄层板检测概述:检测项目1.厚度梯度偏差:测量各层厚度分布(精度0.1μm),要求总厚度公差≤2%2.表面粗糙度:Ra值范围0.05-1.6μm(依据ISO4287标准)3.热膨胀系数:温度范围-60℃至300℃,CTE偏差≤1.510⁻⁶/℃4.界面结合强度:采用划痕法测试(载荷0-50N),临界载荷Lc≥15N5.残余应力分布:X射线衍射法测量(精度10MPa),应力梯度≤200MPa/mm检测范围1.半导体封装用陶瓷-金属复合基板(Al₂O₃/Cu、AlN/Mo)2.光学镀膜器件(SiO₂/TiO₂多层膜系)3.新
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.厚度梯度偏差:测量各层厚度分布(精度0.1μm),要求总厚度公差≤2%
2.表面粗糙度:Ra值范围0.05-1.6μm(依据ISO4287标准)
3.热膨胀系数:温度范围-60℃至300℃,CTE偏差≤1.510⁻⁶/℃
4.界面结合强度:采用划痕法测试(载荷0-50N),临界载荷Lc≥15N
5.残余应力分布:X射线衍射法测量(精度10MPa),应力梯度≤200MPa/mm
1.半导体封装用陶瓷-金属复合基板(Al₂O₃/Cu、AlN/Mo)
2.光学镀膜器件(SiO₂/TiO₂多层膜系)
3.新能源电池极片(石墨烯/铝箔复合材料)
4.航空航天用碳纤维-钛合金叠层结构
5.医用生物涂层材料(羟基磷灰石/钛基复合材料)
ASTMB933-21《金属基复合材料界面强度测试标准》
ISO14577-4:2016《仪器化压痕法测定涂层硬度》
GB/T4340.1-2009《金属维氏硬度试验方法》
ISO14705:2016《精细陶瓷界面结合强度测试》
GB/T30761-2014《电子封装材料热膨胀系数测试方法》
1.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪(残余应力分析)
2.ZEISSCrossbeam550扫描电镜(界面形貌观测)
3.ShimadzuAIM-9000纳米压痕仪(微区力学性能测试)
4.NetzschDIL402C热膨胀仪(CTE精确测量)
5.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪(三维形貌分析)
6.CSMRevetest划痕测试仪(界面结合强度评估)
7.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜(亚微米级厚度测量)
8.Instron5969万能材料试验机(宏观力学性能测试)
9.ThermoScientificK-AlphaXPS能谱仪(表面化学分析)
10.Agilent5500AFM原子力显微镜(纳米级表面表征)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与梯度薄层板检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。