1. 克尔常数测定:测量材料折射率变化与电场平方的线性关系,精度需达±0.5×10⁻¹² m/V²
2. 电场响应时间:记录材料折射率变化达到稳态值90%所需时间,分辨率≤1 ns
3. 温度依赖性测试:在-40℃至150℃范围内,监测克尔系数波动率(标准偏差≤3%)
4. 波长敏感性分析:采用405-1550 nm波段激光源,测定折射率变化量随波长的梯度值
5. 长期稳定性验证:持续施加10 kV/cm电场72小时,检测性能衰减率(阈值<0.8%/24h)
1. 光学玻璃与晶体(如BK7、石英、LiNbO₃)
2. 液晶显示材料(向列相/胆甾相液晶)
3. 聚合物电光薄膜(聚酰亚胺、PVDF基复合材料)
4. 电致变色器件功能层(WO₃、NiO薄膜)
5. 纳米复合电介质(TiO₂/聚合物、石墨烯掺杂体系)
1. 双光束干涉法:依据ISO 13468-2:2021光学材料均匀性测试规范
2. 电光调制相位检测:执行GB/T 1553-2020晶体电光系数测量标准
3. 瞬态电场加载法:参照ASTM F3258-19脉冲电场响应测试规程
4. 光谱椭偏分析:采用ISO 14707:2015表面等离子体共振技术扩展方案
5. 低温真空环境测试:满足GB 11297.12-2021航天光学组件环境适应性要求
1. 高精度电场发生器(Keysight 33500B系列,输出范围0-20 kV/cm,纹波<0.05%)
2. 相位敏感激光干涉仪(ZYGO Verifire MST+,波长精度±0.02 nm)
3. 宽温域环境试验箱(Espec SH-261,控温精度±0.3℃)
4. 飞秒激光测试系统(Coherent Astrella-1K,脉宽<35 fs)
5. 多通道数据采集仪(National Instruments PXIe-5162,采样率5 GS/s)
6. 真空电光测试腔体(Thorlabs VCE200-PM,真空度≤5×10⁻⁶ Torr)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与克尔效应检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。