检测项目
反射损耗（Frequency Range: 1 GHz-40 GHz，测试精度±0.5 dB）
传输损耗（波长范围：850 nm-1550 nm，动态范围≥60 dB）
材料吸收系数（介电常数ε: 2.0-12.0，损耗角正切tanδ: 0.001-0.1）
散射损耗（角度分辨率：0.1°，空间采样率：5 mm）
介电损耗（温度范围：-40℃~150℃，频率范围：10 MHz-1 THz）
检测范围
微波吸收材料（铁氧体、碳基复合材料）
光纤通信产品（单模/多模光纤、光缆接头）
电磁屏蔽材料（导电橡胶、金属化织物）
射频器件（滤波器、天线阵列）
航空航天复合材料（雷达吸波涂层、高温透波陶瓷）
检测方法
ASTM D4935-18：平面材料屏蔽效能测试（反射损耗）
ISO/IEC 14763-3：光缆传输特性现场测量（OTDR法）
GB/T 17626.21：电磁兼容-屏蔽室衰减测量（1-18 GHz）
GB/T 31845-2015：微波介质材料复介电常数测试（谐振腔法）
IEC 61746-1：光时域反射计（OTDR）校准规范
检测设备
矢量网络分析仪（Keysight N5245B，频率范围：10 MHz-50 GHz，支持S参数全双端口校准）
光时域反射计（Yokogawa AQ6370D，波长范围：600-1750 nm，动态范围：80 dB）
屏蔽效能测试系统（ETS-Lindgren 2090，符合IEEE 299标准，测试频率：9 kHz-40 GHz）
散射参数测试系统（Rohde & Schwarz ZVA67，最高频率67 GHz，时域门控功能）
介电常数测试仪（Agilent 85070E，温度控制精度±0.5℃，支持同轴/波导夹具）