1.功函数测定:采用Kelvin探针法测量表面功函数值(范围1.5-6.0eV),精度0.05eV
2.发射电流密度测试:场致发射模式下测量电流密度(10⁻⁶-10A/cm),电压范围0-10kV
3.热稳定性评估:高温环境(800-1500℃)下持续监测发射性能衰减率
4.表面形貌分析:扫描电镜观测表面粗糙度Ra≤50nm,微区成分偏差≤3%
5.寿命加速试验:模拟工作条件(真空度≤110⁻⁴Pa)下测试≥1000小时耐久性
1.金属阴极材料:钨钍合金、铪锆碳化物等微波管用热电子发射体
2.半导体材料:掺杂硅/锗基冷阴极、氮化镓场发射阵列
3.碳基材料:碳纳米管薄膜、金刚石涂层场发射体
4.氧化物阴极:钡钨阴极、六硼化镧热离子发射体
5.复合涂层材料:金属-陶瓷复合涂层电子枪组件
ASTMF312-18场致电子发射性能测试规范
ISO21347:2019真空电子器件阴极热发射特性测量
GB/T11446.7-2013电子级水痕量元素分析(表面污染物检测)
GB/T35031-2018场发射显示器件测试方法
IEC60384-17:2021电子元件表面二次电子产额测定
1.场发射扫描电镜(FE-SEM):JEOLJSM-7900F(分辨率0.8nm@15kV)
2.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificESCALABXi+(能量分辨率<0.5eV)
3.超高真空测试系统:PfeifferHiCubeEco(极限真空510⁻⁸Pa)
4.纳米压痕仪:KeysightG200(载荷分辨率50nN)
5.高温退火炉:ThermoScientificLindbergBlueM(最高温度1700℃)
6.四探针测试仪:LucasLabsPro4(电阻率测量范围10⁻⁴-10⁶Ωcm)
7.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(扫描范围90μm90μm)
8.二次离子质谱仪:CAMECAIMS7f-auto(质量分辨率>20,000)
9.激光热导仪:NETZSCHLFA467HyperFlash(温度范围-120-2800℃)
10.脉冲激光沉积系统:PVDProductsPLD2000(沉积速率0.01-1nm/s)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与电子发射体检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。