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电子发射体检测

  • 原创官网
  • 2025-03-31 11:45:06
  • 关键字:电子发射体测试仪器,电子发射体测试范围,电子发射体测试案例
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电子发射体检测概述:电子发射体检测是评估材料电子发射性能的关键技术环节,涉及功函数、发射电流密度、热稳定性等核心参数分析。本文依据国际标准(如ASTM、ISO)及国家标准(如GB/T),系统阐述检测项目、材料范围、方法流程及设备选型要求,为半导体器件、真空电子装置等领域提供技术支撑。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.功函数测定:采用Kelvin探针法测量表面功函数值(范围1.5-6.0eV),精度0.05eV

2.发射电流密度测试:场致发射模式下测量电流密度(10⁻⁶-10A/cm),电压范围0-10kV

3.热稳定性评估:高温环境(800-1500℃)下持续监测发射性能衰减率

4.表面形貌分析:扫描电镜观测表面粗糙度Ra≤50nm,微区成分偏差≤3%

5.寿命加速试验:模拟工作条件(真空度≤110⁻⁴Pa)下测试≥1000小时耐久性

检测范围

1.金属阴极材料:钨钍合金、铪锆碳化物等微波管用热电子发射体

2.半导体材料:掺杂硅/锗基冷阴极、氮化镓场发射阵列

3.碳基材料:碳纳米管薄膜、金刚石涂层场发射体

4.氧化物阴极:钡钨阴极、六硼化镧热离子发射体

5.复合涂层材料:金属-陶瓷复合涂层电子枪组件

检测方法

ASTMF312-18场致电子发射性能测试规范

ISO21347:2019真空电子器件阴极热发射特性测量

GB/T11446.7-2013电子级水痕量元素分析(表面污染物检测)

GB/T35031-2018场发射显示器件测试方法

IEC60384-17:2021电子元件表面二次电子产额测定

检测设备

1.场发射扫描电镜(FE-SEM):JEOLJSM-7900F(分辨率0.8nm@15kV)

2.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificESCALABXi+(能量分辨率<0.5eV)

3.超高真空测试系统:PfeifferHiCubeEco(极限真空510⁻⁸Pa)

4.纳米压痕仪:KeysightG200(载荷分辨率50nN)

5.高温退火炉:ThermoScientificLindbergBlueM(最高温度1700℃)

6.四探针测试仪:LucasLabsPro4(电阻率测量范围10⁻⁴-10⁶Ωcm)

7.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon(扫描范围90μm90μm)

8.二次离子质谱仪:CAMECAIMS7f-auto(质量分辨率>20,000)

9.激光热导仪:NETZSCHLFA467HyperFlash(温度范围-120-2800℃)

10.脉冲激光沉积系统:PVDProductsPLD2000(沉积速率0.01-1nm/s)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与电子发射体检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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